材料测试分析技术思考题研究生.docVIP

复 习 的 重 点 及 思 考 题 第一章 X射线的性质 X射线产生的基本原理。 X射线的本质 X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等 高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？ X射线与物质的相互作用 两类散射的性质 二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件 第二章 X射线的方向 晶体几何学基础 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式 倒易点阵定义、倒易矢量的性质 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明 布拉格方程 布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。 干涉指数引入的意义，与晶面指数（密勒指数）的关系 第三章 X射线衍射强度 结构因子 原子散射因子、结构因子、系统消光的定义与意义 结构因子的计算 产生结构消光的根本原因？会分析消光规律。例如试分析面心立方晶体的消光规律。 +， 第四章 多晶体分析方法 德拜粉末照相法 德拜衍射花样的指标化原理 x射线衍射仪 衍射仪的基本构成、结构与原理。测角仪的“θ—2θ”、“θ—θ”模式连动的意义。 X射线仪连续扫描、步进（阶梯）扫描的工作方式特点？在实际实验时如何选择？ 从物质的X射线衍射图谱上可以得到什么信息？ 两种衍射方法（德拜、衍射仪）对样品的要求 第五章 X射线物相分析 原理 根据X射线衍射图谱进行定性的相分析的依据 PDF、ASTM、JCPDS卡片组成以及各项目的含义 索引 数字索引（哈那瓦特索引）、字母索引的建立方法与原理，为什么要引入哈那瓦特索引。 索引中各项的含义 物相定性相分析 利用哈那瓦特索引进行单相物相分析的一般步骤。 物相定性分析结果的表示 第七章 光学显微镜的局限性的根本原因是什么？ 显微系统分辨本领的含义？影响分辨本领的因素？（阿贝公式） 磁透镜的像差类别与含义？ 磁透镜的景深、焦长的含义与特点？ 第八章 什么是透射电镜的三级放大系统?试说明每一级的功用? 物镜光栏、选区光栏的位置与作用？ 透射电子显微镜与光学显微镜有何区别？ 复型样品的基本制备方法有几种？简述塑料－碳二级的基本制备方法，并用图示之。 薄膜样品的制备方法有几种？基本原理与方法。 第十章 空间点阵的描述。倒易点阵的概念、厄瓦尔德作图法的应用。 晶带定律及其应用。 二维零层倒易点阵的画法（立方晶系）。如：试画出面心立方点阵及其（001）晶带轴的二维零层倒易点分布。 电子衍射花样形成的原理是什么？ 薄晶体衍射花样的特点？它与零层倒易平面的关系？为何能用电子衍射花样进行相分析？ 简要说明厄瓦尔德作图法，并证明它与布拉格方式的等同性。 试用厄瓦尔德作图法导出电子衍射的基本公式：Lλ=Rd（相机长度、相机常数的意义？） 选区衍射的意义？ 多晶衍射花样的特点？衍射花样的标定。利用多晶衍射花样测定相机常数的方法。 单晶衍射花样的特点？衍射花样的基本标定方法。（衍射花样中测量那些基本参数） 衍射花样指标化的表示方法。 所有衍射花样仅限于立方晶系 第十一章 什么是质厚衬度? 形成的基本原理是什么?（物镜光栏的作用） 提高复型图像衬度有那些途径?为什么? 什么是衍射衬度？其形成的基本原理是什么？ 什么是明场、暗场像？什么是中心明场、暗场像？ 什么是消光现象？消光距离的意义。 衍衬运动学理论的适用范围？（运用了那两个近似？） 什么是等厚纹？等倾纹？（非理想晶体不作要求） 第十二章 1. SEM中电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?（列举至少两种） 2．何为二次电子？何为背反射电子？两者的图像区别？ 3. 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同?所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率? 4. 扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同? 5. 二次电子像和背散射电子保在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 6. 二次电子像景深很大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因何在? 第十三章 为什么能用X射线进行成分分析？ 利用何种X射线进行成分分析？为什么？ 波谱仪进行成分分析的原理？能谱仪进行成分分析的原理？（定性、定量） 能谱仪、波谱仪进行成分分析的优缺点？两者的主要差别？ 综合题 1. 请总结一下，前面所学的测试方法中，相分析的方法有那几种？元素成分分析的方法有那几种？简述一下它们的优缺点 2. 一种材料中含有CaCO3相，应用何方法分析？如要监测铁元素的影响应用何方法？为什么？ 3. 一种样品其某中元素的含量在10－3克/ 克以下，你认为应用那种方法分析合适？为什么？