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改进的大规模集成电路测试方法

1672-2892(2007)04-0308-05 1 1 2 (1. 750021 2. 430074) () ’ TN407 A An Improved Method for Testing Large Scale Integrated Circuit ’ 1 [1] (Large Scale Integrated CircuitLSIC) 2 STUMPS STUMPS[2-3] scan-chain 1 STUMPS CUT1 PRPG (Pseudo-Random Pattern GeneratorPRPG) (LFSR) … MISR (Multiple Input Signature RegisterMISR) scan-chain PRPG MISR (Linear Feed-back Shift RegisterLFSR) CUTn Scan-chain (Circuit Fig.1 Structure of STUMPS Under Test CUT) 1 STUMPS 2007-01-04 2007-03-19 STUMPS Scan-chain CUT [4-6] STUMPS STUMPS 3 STUMPS 3.1 STUMPS STUMPS (Test-Per-ScanTPS) LFSR scan-chain L=6 P 1=110010 0 1 1 1 0 1 2 L =6 P 0 t=0 clock,P0=011101 P 1 6 t=6 clock,P1=011101 P 1 Fig.2 Principle of Test-Per-Scan 6

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