《基于粗糙集贝叶斯网络的电子产品设计缺陷评估模型_朱敏1_刘卫东2》.pdfVIP

网络出版时间：2012-11-12 14:47 网络出版地址：/kcms/detail/51.1196.TP1447.012.html 第29 卷第1 期 计算机应用研究 Vol.29 No.1 2012 年1 期 Application Research of Computers Jan. 2011 基于粗糙集贝叶斯网络的电子产品设计缺陷评估模型* 1 2+ 朱敏 ，刘卫东 (1.南昌大学 软件学院,南昌市 330047;2.南昌大学 机电工程学院，南昌市 330031) 摘 要: 为了对电子产品设计缺陷进行评估与预测，需要构建电子产品设计缺陷粗糙集数学描述模型。由于电子产品设计 缺陷影响因素关系复杂，直接构造贝叶斯网络预测模型困难大，精度差，因此提出一种贝叶斯网络与粗糙集相结合的方法。 采用粗糙集来生成贝叶斯网络预测模型的网络结构和各节点的条件概率表，再通过贝叶斯网络的参数估计建立电子产品设计 缺陷的预测模型。实际应用证明该方法简捷有效，可以预测项目可能存在的设计缺陷。 关键词: 粗糙集；设计缺陷；贝叶斯网络；简约；参数估计 中图分类号:TP182 文献标志码: A 文章编号： Prediction Models of Electronic Products Design Defects Based on Rough Set Bayesian Network Theory 1 2 ZHU Min , LIU Wei-dong (1. School of Software, Nanchang University, Nanchang Jiangxi 330047,China；2.QR Studio, Nanchang University, Nanchang Jiangxi 330031,China) Abstract: This paper presents an integrated method based on Bayesian network theory and rough set theory to analyze and predict the electronic products design defects. During the process that establishes the relationship among influence factors of electronic products design defects, it is usually difficult to establish directly the Bayesian network prediction model. This paper establishes the network topology and nodes conditional probability tables by using tough set theory. Then the electronic products design defects prediction model is obtained with Bayesian network parameter estimation. At the end of this paper,