500kV复合绝缘子脆断事故研究与劣化机理分析.pdfVIP

第 49卷 第 9期 瘩 ．雹窆 Vo1．49 No．9 2013年9月 HighVoltageApparatus Sep．2013 ·35 · 500kV复合绝缘子脆断事故研究与劣化机理分析 冉学彬 ， 鲁 兹 ， 成 立 ， 郭晨錾 ， 关志成z， 王黎明z (1．南方电网超高压输 电公司天生桥局，贵州 562400； 2．清华大学深圳研究生院能源与电工新技术实验室 ，深圳 518055) 摘要：笔者分析了一起500kv复合绝缘子脆断事故以及老化机理。该复合绝缘子脆断事故的特征与常见的 脆断故障不同，在硅橡胶护套表面出现 了部分贯通蚀孔 ，解剖后可以发现部分 区域脱粘且在护套与芯棒交 界面有漏电蚀痕 。观察到故障复合绝缘子的宏观与微观交界面均存在一定的质量 问题。使用傅氏变换红外 光谱分析芯棒材料 ，证明在芯棒材料 中存在玻璃化侵蚀 ，离子交换以及水解等老化过程。 最后结合试验结 果 ，分析 了此类 由于水份侵入而造成的老化现象，并建议在线监测中需关注复合绝缘子交界面质量。 关键词 ：外绝缘 ；复合绝缘子；脆断；老化机理 中图分类号 ：TM216 文献标志码 ：A 文章编号：1001．1609(2013)09—0035—09 FractureFaultAnalysisandAgingMechanism Studyfor500kV CompositeInsulator RAN Xue—bin ，LU Ci，CHENG Li，GUO Chen—yun ，GUAN Zhi—cheng，WANG Li—ming (1．EHVTransmissionCompanyofCSG，Guizhou562400，China； 2．EnergyNewElectricalTechnologyLaboratoryofTsinghLlaUniversity，Shenzhen518055，China) Abstract：Inthispaper，afractured500kVACcompositeinsulator，whosefracturecharacteristicsdifferfrom those ofbrittlefracture，isanalyzedinordertoidentifytheagingmechanismsinvolvedandtheircauses． Severalsheath puncturesoccurredalongtheinsulatorwhichapparentlyoriginatedrfom insidetheinsulator．Removalofthesheath revealedweak adhesion aswellastrackingalong the sheath—core interface． Weak microscopic aswellas macroscopic interfaceswereobserved． ThecorematerialwasanalyzedbymeansofFTIR identifyingglass corrosion，ionexchangeandhydrolysisasmajordegradationmechanisms．Basedontheresultsofanalysisawater inducedagingprocessisproposedandrecommendationsforonlinemonitoringofcompositeinsulatorswithrespect tointerfacialagingaregiven． Keywords：outdoorinsulation；compositeinsulator；fracture；brittlefracture；aging mechanism 常用 的几种在线诊断方法也不 能很有效地诊 断复 0 引言 合绝缘子 的老化程度与存在 的内缺 陷r6。因此 ．有 复合绝缘子以其