新射线检测 教学课件 王乐生 射线检测第三章.pptVIP

一、散射线的来源和分类 产生散射线的物体称作散射源。在射线照相检验中，散射线产生于射线照射的任何物体，包括被透照的工件、放置工件的台面或支架、胶片与暗袋、工件周围的各种物体（如地面、墙壁、其他物体），空气也是一种散射源。对于实际的射线照相检验工作，到达胶片的散射线，最主要的是来自被透照的工件本身，其次（当对散射线防护不好时）是工件背面与周围的物体，特别是原子序数比较低的物体产生的散射线。 模块四 散射线的控制 对散射比来说，它们之间的关系可简单地概括如下 1）随着射线能量的提高散射比将降低，应注意的是这是对能量变化较大的一般结论； 2）随着透照厚度的增大散射比也增大； 3）在较小的面积范围内，随着面积的增大散射线比也增大，但当面积增大到一定程度后，散射线比不再增大。 一般认为，当透照区直径小于100mm左右时，散射比随透照区增大而增大，当透照区直径大于100mm左右后，散射比不再增大。 模块四 散射线的控制 二、散射线的控制措施 散射线会使射线底片的灰雾黑度增大，影像对比度降低，对射线照相质量是有害的。必须严格控制到达胶片的散射线，由于受射线照射的一切物体都是散射源，所以实际上散射线是无法消除的，只能尽量设法减少而已。控制散射线的措施有许多种，其中有些措施对照相质量产生多方面的影响，对这些措施要综合考虑，权衡选择。这些措施包括以下几个方面。 模块四 散射线的控制 1.选择合适的射线能量 对厚度差较大的工件，例如余高较高的焊缝或小径管透照时，散射比随射线能量的增大而减小，因此可以通过提高射线能量的方法来减少散射线。但射线能量值只能适当提高，以免对主因对比度和固有不清晰度产生明显的不利影响。 2.使用铅箔增感屏 铅箔增感屏除了具有增感作用外，还具有吸收低能散射线的作用，使用增感屏是减少散射线最方便、最经济、最常用的方法。选择较厚的铅箔减少散射线的效果较好，但会使增感效率降低，因此铅箔厚度不能过大。实际使用的铅箔厚度与射线能量有关，且后屏的厚度一般大于前屏。 模块四 散射线的控制 还有一些措施专门用来控制散射线，应根据经济、方便、有效的原则加以选用，这些主要措施包括：滤波、光阑、遮蔽、屏蔽、厚度补偿物、修磨试件等方法 模块四 散射线的控制 曝光曲线是在一定条件下绘制的透照参数（射线能量、焦距、曝光量）与透照厚度之间的关系曲线。这些条件主要是透照工件材料、射线源、胶片、暗室处理技术、增感、射线照相质量要求等。实际进行射线照相时确定透照参数经常采用曝光曲线，从曝光曲线给出的关系可方便地确定某种材料、某个厚度的工件、满足规定的质量要求应选用的射线能量、焦距、曝光量、暗室处理条件等。 对X射线照相检验，常用的曝光曲线有两种类型，第一种类型曝光曲线以透照电压为参数，给出一定焦距下曝光量对数与透照厚度之间的关系。第二种类型曝光曲线以曝光量为参数，给出一定焦距下透照电压与透照厚度之间的关系。 模块五 曝光曲线的制作及应用 第一种类型曝光曲线，纵坐标是曝光量，单位是毫安 分（mA min），采用对数刻度尺，横坐标是透照厚度，常用毫米（mm）为单位，采用算术刻度尺。图中的曲线是在相同的焦距下对不同的透照电压画出来的。从图中的曲线可以看到，采用某一透照电压但透照不同厚度时，曝光量相差得很大。由于曝光量既不能很大，也不能很小，所以某个透照电压实际上只适于透照一较小的厚度范围。 模块五 曝光曲线的制作及应用 第二种类型曝光曲线，纵坐标是透照电压，单位名称为千伏（kV），采用算术刻度尺；横坐标是透照厚度，单位常用毫米（mm），采用算术刻度尺。图中曲线是在相同的焦距下对不同曝光量画出的 模块五 曝光曲线的制作及应用 曝光曲线必须通过试验制作，每台X射线机的曝光曲线各不相同，不能通用，因为即使管电压、管电流相同，如果不是同一台X射线机，其线质和照射率是不同的。原因有以下几点： 1）加在X射线管两端的电压波形不同(半波整流、全波整流、倍压整流及直流恒压等)，会影响管内电子飞向阳极的速度和数量； 2）X射线管本身的结构、材质不同，会影响射线从窗口出射时的固有吸收； 3）管电压和管电流的测定有误差。 每台X射线机都应有曝光曲线，作为日常透照控制线质和照射率，即控制能量和曝光量的依据，并且在实际使用中还要根据具体情况作适当修正。 模块五 曝光曲线的制作及应用 一、光曲线的制作 对X射线的曝光曲线可按照下面的步骤制作。 1.准备 确定制作曝光曲线的条件和准备阶梯试块及补充试块。 需确定的制作曝光曲线的条件主要是X射线机型号；透照物体的材料和厚度范围；透照的主要条件（胶片、焦距、增感屏等