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1.4 射线照相法的原理与特点 射线检测应用目的：探测试件内部的宏观几何缺陷。 射线检测方法分类 按射线种类分 X射线，γ射线，中子射线 2 按记录器材分 胶片照相法；，数字成像法，实时成像法 3 按工艺和技术特点分 常规方法；全景曝光等； 1.4.1 射线照相法原理 射线照相法：用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息器材的无损检测方法。 原理： 射线穿透物体时与物质发生相互作用，因吸收和散射而使强度减弱； 强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿过的厚度； 如果被透照物体的局部存在缺陷， 且构成缺陷的物质的衰减系数又 不同于试件，该局部区域的透过 射线强度就会与周围产生差异。 1.4.1 射线照相法原理 原理： 把胶片放在适当位置使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。 底片上各点的黑化程度取决于射线照射量，由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异（对比度）； 把底片放在观片灯上借助透过光 线观察，可以看到由对比度构成 的不同形状的影像，评片人员据 此判断缺陷情况并评价试件质量。 1.4 射线照相法的原理与特点 缺陷引起射线强度变化的定量分析： 试件厚度T，线衰减系数μ， 缺陷尺寸ΔT，线衰减系数μ′ 入射射线强度I0，一次透射射线强度Ip和Ip， 透射射线总强度I，散射比n 1.4 射线照相法的原理与特点 射线强度差异是底片产生对比度的根本原因。 主要影响因素有：透照厚度差、线衰减系数和散射比 主因对比度ΔI/I ： 1.4.2 射线照相法特点 适用范围：主要用于对接焊接接头的检测、可以检测铸件、特殊情况下也可用于检测角焊缝或一些特殊结构，一般不适宜检测钢板、钢管和锻件、钎焊摩擦焊接头。 用底片作为记录介质，可以直接得到缺陷的直观图像，且可以长期保存，通过观察底片能够比较准确地判断缺陷的性质、数量、尺寸和位置。 容易检测出形成局部厚度差的缺陷，对气孔和夹渣之类体积型缺陷有很高的检出率，对裂纹类面积型缺陷的检出率受透照角度的影响，不能检出垂直射线方向的薄层缺陷。 1.4.2 射线照相法特点 能检出的缺陷高度尺寸与透照厚度有关，可以达到透照厚度的1%。甚至更小。 检测薄工件没有困难，几乎不存在检测厚度下限，但检测厚度上限受射线穿透能力的限制，而穿透能力取决于光子的能量。420KeVX射线—80mm，Co60 γ射线—约为150mm，加速器—可达到400mm以上。 几乎适用于任何材料，在钢、钛、铜、铝等金属材料上使用均能得到良好的效果，该方法对试件的形状、表面粗糙度没有严格要求，材料晶粒度对其不产生影响。 成本较高，检测速度较慢。 对人体有伤害，需要采取防护措施。 * * 与可见光类似。 1.2.3 γ射线 的产生与特点 Co60经过一次β-衰变变成为处于2.5MeV激发态的Ni60，随后放出能量分别为1.17MeV和1.33MeV的两种而跃迁到基态。 γ射线能量决定于放射性同位素种类。 一种放射性同位素可能放出多种能量的γ射线 ，以多种能量的平均值作为该同位素的辐射能量。 γ射线的能谱是线状谱， 谱线只出现在特定波长 的若干点上。 1.2.3 γ射线 的产生与特点 放射性同位素的衰变规律 原子核衰变是自发性进行的，某一个放射性核何时衰变具有偶然性，不可预测，但对于足够多的放射性核的集合，它的衰变服从指数规律: 式中：No–初始状态的放射性原子核数； N –经过t 时间后的放射性原子核数； λ – 衰变常数。 衰变常数反映放射性物质的固有属性， λ值越大，物质越不稳定，衰变速度越快。 1.2.3 γ射线 的产生与特点 放射性同位素的半衰期T1/2 放射性同位素衰变掉原有核数的一半所需要的时间。 T1/2也反映了放射性物质的固有属性，λ越大， T1/2越小 1.3 射线与物质的相互作用 射线穿过物质时，会与物质发生相互作用而使强度减弱。 导致强度减弱的原因：吸收和散射 吸收：一种能量转换，光子能量被物质吸收后转换成其他形式的能量； 散射：使光子的运动方向改变，其效果等于在束流中移去入射光子。 在X射线和γ射线能量范围内，光子与物质作用的主要有：光电效应、康普顿效应和电子对效应；光子能量较低时，还应考虑瑞利散射。 射线通过物质时的强度衰减遵循指数规律，衰减情况不仅一吸收物质的性质和厚度有关，还取决于辐射自身的性质。 1.3.1 光电效应 光电效应：光子与物质原子的束缚电子作用，光子能量全部转移给某个电子，使这个电子发射出去（发射出去后称为光电子），光子本身由于能量耗尽而消失。 1.3.1 光电效