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1绪论 1.1 课题研究背景 20世纪70年代以来，伴随电脑技术、大规模积体电路、可编程逻辑器件、高速数据信号处理器的迅猛发展，各种数字系统的设计、开发、检测任务越来越多，也越来越复杂了。数字电路系统所处理的资讯都是用离散的二进位来表示，常用“1”来表示高电平，“0”表示低电平，多个二进位位的组合构成一个数据，我们称这一领域是数据域；该领域测试技术即被称为数据域测试技术，简称数据域测试。 在数据域测试的领域中，大多数情况下只在意数据信号之间的逻辑关系和时序关系，缺忽视了实际的具体波形。对于设计人员来说，若想从大量的数据流中找出一些无规则、隐蔽、随机的错误无异于大海捞针，所以，必须采用一些全新的测试设备才能及时、迅速、准确的解决问题，如逻辑分析仪、仿真器、数据图形产生器、嵌入式开发系统等等。其中，逻辑分析仪（Logic Analyzer，简称LA）是最基本、最具有代表性的数据域测试仪器。 逻辑分析仪的主要作用是在时钟作用下对被测系统的数字信号进行采集并显示出来，来判断时序正确与否。与示波器不同，逻辑分析仪没有具体的电压值显示，并且通常只显示两个电压—--即逻辑“1”和“0”，因此设定一个电压作为参考是必需的，被测信号通过比较器与参考电压进行比较，比参考电压高的为高电平（即为逻辑“1”），同理，比参考电压低的即为低电平（逻辑“0”），在高电压与低电平之间形成数字波形。例如：利用10