优化soc测试能的测试数据重组技术研究.pdfVIP

优化soC测试性能的测试数据重组技术研究 摘 要 随着集成电路工艺技术和设计方法的提高，集成电路的规模越来越大，使 得原来要由多个芯片才可以实现的复杂系统被集成在单个芯片上成为可能。在 膨胀、测试功耗的上升和测试访问的复杂性，使得测试成本大幅上升，SoC测 试面临着很大的挑战，测试资源划分技术(TRP)是主要的测试优化技术，包括测 对TRP技术的研究，以优化SoC测试性能为目的，展开了相关的研究工作。主 要贡献包括：(1)提出一种芯核测试模式重组技术，保证高压缩率的同时降低测 试功耗。(2)提出多芯核测试数据共享与测试调度技术，实现多芯核的并行测试， 有效的降低了测试应用时间。 基于扩展模式游程编码压缩方法进行研究，在编码过程中对模式中无关位 赋不同的值会影响模式之间的相容性，而模式相容性的改变最终会影响编码的 压缩效果。针对这一问题，本论文提出了一种低功耗模式重组技术，该技术首 先将扫描链按模式长度划分成一组扫描切片，然后计算扫描切片对应的模式之 间的相容性。根据得到的相容概率重新组合模式的次序，将相容概率高的模式 临近排列。同时扫描切片根据模式的排列次序进行重组，并采用多扫描链结构。 实验结果表明该方案能够有效的降低移位功耗并且保证了较高的测