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目 录 集成电路测试机发展史简介 3 测试的专业术语简介 5 芯片测试中的一些专业术语 5 测试中硬件的一些专业术语 5 测试系统中的一些专业术语 6 测试参数中的一些专业术语 7 测试设备的一般结构 9 FUNCTIONAL测试原理 11 功能测试简介 11 Test Vector 12 Input Signal Format 13 Input Signal Creation 14 Output Signal Testing 15 一些基本参数的测试原理 16 Open/Short Test 16 IDD TEST 19 VOL/IOL VOH/IOH TEST 20 Input Current (IIL/IIH) 21 附录 22 Test Development Steps 22 集成电路测试机发展史简介 当今的电子测试业界，分为两大部分，一是PCB组装测试，一是集成电路测试，如下图所示： ICT（In Circuit Tester）/AMD PCB组装测试 ATE（Auto Test Equipment） 电子测试 测试 Function Test WAT Digital test IC测试 Function Mixed test Analog test 随着PCB组装大规模生产线的出现，使得传统的测试观念发生变化，希望PCB上的问题能在成品前的几道工序就能及时发现并修复，于是从80年代开始，出现了光板测试仪和在线测试仪（ICT ATE），并导入生产制程，使PCB的成品率大大提升。 1958年德州仪器公司（TI）研制发明了世界第一块集成电路7400（与非门逻辑电路）以来，便诞生了世界上第一台集成电路测试机，专用于测试自己产品的IN HOUSE TESTER。同样，世界上第一颗模拟（Analog）集成电路是Fairchild公司的运算放大器741，同时，便诞生了世界上第一台模拟集成电路测试机。 集成电路测试机已经走过了第一代、第二代，目前正处于第三代的早期，其中每一代测试机的特点及其代表厂家如表一所示： 表一： 项项目 硬件特点 软件特点 代表机型 第一代 ECL电路，体积庞大 Minicomputer, 文字界面 SENTRY 7 SENTRY 10 第二代 ASIC，体积较大 工作站，UNIX操作系统 SCHLUMBERGER TRILLIUM等 第三代 ASIC，FPGA，标准化，模块化，体积很小 WINDOWS操作系统，易学易用，向智能化发展 TERADYNE J750 等 1970年，Fairchild公司推出了世界上第一代成功的商业化的数字集成电路测试机Sentry 7，它采用24位BUS，ECL电路，2MHz的minicomputer，体积庞大，主要性能为：DATA RATE为10MHz，最大测试通道为60PIN；直到1990年为止，先后推出S-10，S-20，S-21等型号，在1970年到1990年这二十年期间，Sentry机器凭借其优良的性能，在测试业界独岭风骚，无任何竞争手。 随着386CPU的出现，集成电路的集成度和工作频率大幅度提高，诞生了第二代集成电路测试机，主要特点为：测试机硬件系统开始采用ASIC，软件系统则引入工作站，用UNIX操作系统。其代表性的机器有法国的SCHLUMBERGER以及TRILLIUM。Sentry公司卖给SCHLUMBERGER后，便推出第二代产品S15及S50，而Sentry公司的部分员工成立TRILLIUM公司，推出50MHz、256PIN的数字测试机，赢得较大的市场，SCHLUMBERGER推出S15、S50失败后，推出先进的ITS9000系统，此系统在软件和硬件上均代表当时的最高水平，软件采用高级的图形界面，测试程序采用模块化结构，硬件系统采用SEQUENCE PER PIN结构（每一PIN均有独立的PMU，TG，VIH，VIL，VOH，VOL及SEQUENCE），此时ITS9000机器独霸市场，TRILLIUM不得已卖给CREDENCE，CREDENCE推出SC212系统，它在软件方面引进ITS9000的优点，在硬件方面采用CMOS电路，向小型化发展，此系统推出后，打败了众多大系统机台。 随着个人计算机及WINDOWS操作系统的广泛普及，如今，出现