BIST结构的低功耗分析.pdfVIP

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  • 2016-01-15 发布于安徽
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摘要 { \集成度的提高、设计手段的改进以及封装技术的发展使得外部测试变得越 \ 来越困难了。内建自测试(BIST)作为一种可测性设计手段,它通过在芯片中包含 测试逻辑,并由测试逻辑自动执行模式生成、响应分析以及测试管理来检测系统 中的故障,它已经成为解决VLSI测试问题的一个有发展前景的手段。 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用,可测性 设计的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。这是因为在测试模式下电 路的功耗要远远高于正常模式,这将带来如电池寿命、芯片妨装、可靠性等一系 7、/ 列fol题。因此BIST的低功耗研究已受到了广泛的重视。) 本文首先介绍了BIST的产生背景、基本概念和实际应用。在此基础上,通 过对线性移位寄存器(LFSR)及其产生的测试模式的分析,研究了测试模式生成技 术,结合模拟退火算法提出了新的测试模式生成方案,经实验证实,在保证原有 的故障覆盖率的前提下大大地降低了测试功耗。并结合新的测试模式生成方案, 对相应BIST的结构进行了改善,降低了测试功耗。 本文还对扫描单元结构、扫描链的排列以及电路的分割作了一些研究和分 析,通过改进上述三个方面,测试功耗也能较为有效地降低。降低BIST功耗的 关键在于合理地选择功耗降低与增加的硬件开销的折衷点,这就需要根据实际情 况而定。本文最后总结了降低BIST结构功耗的各种方法,提出了今后研究的发 展方向。 关键词:BIST低功耗模拟退火 ABSTRACT The increaseofintegratedlevel,the of andthe improvementdesign of make external moreandmore developmentpackage testing difficult.Built—in of for asa Self-test(BIST),amethodologydesign testability(DFT),has emerged solutiontotheVLSI test promising testing problem,byincorporating logicon-chip, and test andtest automatically implementingpattern analysis generation,response todetect ina managementfaultycomponents system The of inDFThas problem become powerconsumption incre

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