BIST结构的低功耗分析.pdfVIP

摘要 { ＼集成度的提高、设计手段的改进以及封装技术的发展使得外部测试变得越 ＼ 来越困难了。内建自测试(BIST)作为一种可测性设计手段，它通过在芯片中包含 测试逻辑，并由测试逻辑自动执行模式生成、响应分析以及测试管理来检测系统 中的故障，它已经成为解决VLSI测试问题的一个有发展前景的手段。 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用，可测性 设计的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。这是因为在测试模式下电 路的功耗要远远高于正常模式，这将带来如电池寿命、芯片妨装、可靠性等一系 7、／ 列fol题。因此BIST的低功耗研究已受到了广泛的重视。) 本文首先介绍了BIST的产生背景、基本概念和实际应用。在此基础上，通 过对线性移位寄存器(LFSR)及其产生的测试模式的分析，研究了测试模式生成技 术，结合模拟退火算法提出了新的测试模式生成方案，经实验证实，在保证原有 的故障覆盖率的前提下大大地降低了测试功耗。并结合新的测试模式生成方案， 对相应BIST的结构进行了改善，降低了测试功耗。 本文还对扫描单元结构、扫描链的排列以及电路的分割作了一些研究和分 析，通过改进上述三个方面，测试功耗也能较为有效地降低。降低BIST功耗的 关键在于合理地选择功耗降低与增加的硬件开销的折衷点，这就需要根据实际情 况而定。本文最后总结了降低BIST结构功耗的各种方法，提出了今后研究的发 展方向。 关键词：BIST低功耗模拟退火 ABSTRACT The increaseofintegratedlevel，the of andthe improvementdesign of make external moreandmore developmentpackage testing difficult．Built—in of for asa Self-test(BIST)，amethodologydesign testability(DFT)，has emerged solutiontotheVLSI test promising testing problem，byincorporating logicon-chip， and test andtest automatically implementingpattern analysis generation，response todetect ina managementfaultycomponents system The of inDFThas problem become powerconsumption incre