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micropiv系统对方形微流道3d速度分布的测量-中国科学院力学研究所
MicroPIV系统对方形微流道3D速度分布的测量
郑旭 王绪伟 李战华*
中国科学院力学研究所非线性力学国家重点实验室,北京,100080
*lili@imech.ac.cn
摘 要:本文介绍了一种具有垂向精细调节功能的MicroPIV系统。在PI纳米位移控制器的配合下,垂直方向位移调节精度可达到10nm。对微方形流道55μm×20μm中不同垂直位置处的速度分布的测量结果表明,无量纲化实验测量速度分布与三维理论预测值符合得很好,同时垂直方向无量纲最大速度也与理论结果相符。证明宽深比小于3的微管道的速度剖面的3D特征。
关 键 词:MicroPIV,微流动,方形流道,速度分布
1.引言
微流动是MEMS系统研究中的一个重要内容,对微流动机理的研究成为MEMS领域发展的重要基础,Ho Tai[1]对此已进行了全面的综述。Santiago et al.[2]和Meinhart et al.[3]率先发展起来的MicroPIV技术,为微流动中速度测量和流动显示提供了重要的手段。近年来,MicroPIV技术逐渐发展成熟并已成功的被应用于微流动的实验测量中[4],[5],但还有不少问题需要改进,如进一步提高空间分辨率,提高近壁区测量精度等。本文将介绍由高放大倍数、高数值孔径物镜,纳米位移控制系统组建的MicroPIV系统,该系统的光学分辨率达到0.35μm,图像分辨率达到80nm,垂直位置调节精度达到10nm。
现有微流控芯片以方形流道为主。当方形微流道制成宽度远大于高度的形状时,在宽度中心位置测得的沿高度方向的速度分布与二维Poiseuille流抛物线分布近似[4]。而依据White[6]给出的粘流方管理论解,高度和宽度相差不大的方管,三维效应将会非常明显,二维Poiseuille流抛物线解将不再适用。宏观尺度方管速度分布的理论分析已经有了比较完整的结果,Schlichting[7]总结了Nikuradse实验,给出了层流方管横截面的等速度线,Patel Head[8]给出了不同雷诺数下方管中不同层面最大速度的分布。但至今没有对方形微管道中的实验结果进行验证。而且微流动中壁面效应对近壁流动也将有明显的影响,这启发我们进一步利用MicroPIV来考察方形微流道中的速度分布。
2.实验装置和方法
2.1.MicroPIV系统
中科院力学所LNM室的MicroPIV系统主要由双脉冲激光器(New Wave 120XT)、荧光倒置显微镜(Olympus IX71)、EMCCD(Andor 885)、纳米位移控制器(PI)、同步控制器(北京立方天地Micropulse 710)和电脑等组成。系统示意图如图1所示。
图1.MicroPIV系统示意图
(1)New Wave Nd:YAG 双脉冲激光器,发射光波长为λ=532nm,发射脉冲频率在1-15Hz内可调,脉宽3~5ns,最大激光能量120mJ,实验时使用范围10~15mJ。
(2) Olympus IX71荧光显微镜的核心部件是物镜。物镜分辨率δ计算公式为:
(1)
其中NA为物镜数值孔径,n为介质折射率,θ为物镜视场半角。可见选用高数值孔径的油镜,可以提高分辨率。因此我们选用了100X的油镜,数值孔径NA=1.35,镜头油折射率n=1.516,(δ=0.35μm)。物镜工作距离为100μm,这对微流道的制作有了一定的限制。依据文献[2]、[3],物镜景深表示为:
(2)
其中M为物镜放大倍数,e为CCD单像素宽度(对Andor 885 EMCCD e=8μm),那么δz=0.54μm。
(3) 实验使用的荧光粒子粒径为dp=200nm,被激发光波长约610nm,荧光液体由荧光粒子加超纯水配成,浓度约0.1%,其衍射光斑直径ds和有效光斑直径de分别为:
(3)
(4)
当物镜放大倍数M=100,入射光波长λ=532nm时,ds=48.1μm,de=52.1μm,即通过物镜观察到的荧光粒子直径为de/M=0.52μm。
(4)物镜焦平面位置的垂直调节依靠PI纳米位移控制器,调节范围0~100μm,调节精度10nm。
(5)图像拍摄使用1004×1002像素14bit Andor 885 EMCCD。该CCD有电子增益功能,光敏感度高。单个像素宽度为8μm,配合荧光显微镜,1×1bining下
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