SJ_T11577-2015SJ_T11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南.DOCVIP

ICS 31.260 L 53 备案号： SJ 中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准 SJ/T ××××—×××× SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试 方法》应用指南 Guide on SJ/T 11394-2009 《Measure methods of semiconductor light emitting diodes》 （报批稿） ××××-××-××发布 ××××-××-××实施   SJ/T ××××—×××× 目次 目次... ..I 前言... ... II 1 范围... ... 1 2 规范性引用文件... . 1 3 术语、定义和符号... ... 1 4 测量要求... . 1 4.1 一般要求... . 1 4.2 测量条件... .. 1 4.3 电学测量条件和测量设备... ...3 4.4 光度和色度特性测量仪器... ...3 5 测量准备、安装和工作条件... ..5 5.1 老炼... ... 5 5.2 被测样品... . 5 5.3 安装... ... 5 5.4 LED 的工作条件... . 5 6 光度参数的测量... . 5 6.1 一般要求... . 6 6.2 平均发光强度测量... ... 6 6.3 半强度角和角偏差... ... 6 6.4 光通量和光通量效率... .. 6 6.5 辐射功率和辐射效率... .. 6 6.6 峰值发射波长、光谱带宽和光谱功率分布... . 6 7 色度参数的测量... . 6 8 其他参数的测量... . 7 9 结果报告... . 7 9.1 一般信息... .. 7 9.2 被测样品信息... ... 7 9.3 测量流程信息... ... 7 9.4 光度和（或）色度数据... ..8 I  SJ/T ××××—×××× 前 言 本标准按照GB/T 1.1－2009给出的规则起草。 请注意本标准的某些内容可能涉及专利。本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。 本标准主要起草单位：广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业 和信息化部电子工业标准化研究院。 本标准主要起草人：周钢、牟同升、赵英、刘秀娟。 II  SJ/T ××××—×××× SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南 1 范围 本标准规定了 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 5698－2001 颜色术语 SJ/T 11394－2009 半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11395－2009 半导体照明术语 3 术语、定义和符号 GB/T 5698－2001、SJ/T 11394-2009和SJ/T 11395－2009界定的术语、定义和符号适用于本文件。 4 测量要求 4.1 一般要求 LED 电学、光度和色度特性测量应在规定的标准测量条件下采用合适的设备和测量规程进行。测量 条件包括对实验室和环境条件的要求以及测量设备的要求。测试结果应在标准条件下给出。 所有测量必须溯源至 SI 单位。测试报告应包括测量不确定度的声明。所有测量不确定度应以在 95% 的置信度下（包含因子 k=2）的扩展不确定度的形式给出。 所有测量应在测量条件的最大允许偏差范围内进行，测量仪器应符合 4.2 的要求。在这种情况下， 就认为测量是在标准条件下完成的。 当测量设备的设计和配置不同于本标准中明确描述的类型时，如其可提供测试数据与本标准规定类 型设备的验证数据等同，该测量设备可被接受。 4.2 测量条件 4.2.1 标准测量条件 标准测量条件中的允差范围由被测物的工作条件和测量仪器的测量能力共同确定。在设置工作条件 时应根据校准证书修正仪器的读数。 当测量不确定度增大时，可通过缩小标准测量条件的允差范围来满足标准测量条件的要求（参见示 例）。 1  SJ/T ××××—×××× 示例： 标准测量条件中环境温度条件为 25℃，允差范围为±1℃。这个允许偏差意味着修正后的温度计读数应在 24℃～26 ℃。一般认为温度测量的扩展不确定度与温度计的校准不确定度相等。如果这个不确定度是±0.2℃（允许偏差）， 在不确定度评定时实际温度可能位于 23.8℃～26.2℃。如果温度计校准不确定度为±0.5