第六章光学显微分析.pptVIP

形貌、显微结构观察技术 1、光学显微镜 2、扫描电子显微镜(SEM) 3、透射电子显微镜(TEM) 4、扫描探针显微镜（SPM） 主要内容 偏光显微镜 单偏光镜下晶体的光学性质 正交偏光镜下晶体的光学性质 锥光镜下晶体的光学性质 6.1 偏光显微镜 偏光显微镜是研究透明矿物光学性质的重要仪器，它比一般（生物）显微镜复杂，其主要的区别在于偏光显微镜装有两个偏光镜及聚光镜和勃氏镜。 偏光显微镜的类型较多，但其基本构造相似。 6.1 偏光显微镜 研究对象:岩石薄片 钾长石的卡斯巴双晶 斜长石的聚片双晶 堇青石的六连晶 3、双折射率的测定 同一矿物，由于切片方向不同，双折射率大小不同。只有最大双折射率才有鉴定意义。 所以，一轴晶应选‖OA、二轴晶应选‖AP的切面。这两种切面在正交偏光镜下具有最高干涉色，在锥光镜下有一定干涉图特征。 找出定向切片后，测出干涉色，确定相应的光程差，若取薄片标准厚度（0.03mm），可在色谱表上查出双折射率或由公式R= d(Ng-Np)计算得出。 6.3 正交偏光镜间晶体的光学性质 6.3.6正交偏光镜下晶体主要光学性质的观察与测定 4、消光类型与消光角的测定 (1)消光类型—晶体处于消光位时，其解理缝、双晶缝，晶棱等与目镜十字丝（代表上下偏光镜的振动方向）的关系。 a、平行消光—晶体处于消光位时，其解理缝、双晶缝，晶棱等与目镜十字丝平行； b、斜消光—晶体处