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2等厚干涉
夹角变大 (或向上移) 夹角变小 (或向下移) 条纹变疏 条纹变密 条纹向左移动 条纹向右移动 上左下右 试 件 标 准 件 利用干涉现象 检验平面的平整度 应该出 现 暗纹 的位置 实际的 暗纹位 置 左凹右凸(与劈尖在那边有关) 二、牛顿环 在一块光学平面玻璃片上,放一曲率半径R很大的平凸透镜,在其间形成一上表面为球面,下表面为平面劈尖形空气 薄层的装置就是牛顿环装置。 由于这里空气劈尖的等厚轨迹是以接触点为圆心的一系列同心圆环,所以在其上可观察到一组明暗相间的同心圆等 厚干涉条纹。 牛顿环 * 等 厚 干 涉 用一束平行光照射厚度很薄的不均匀薄膜时,在膜附近观察到的是等厚条纹,在实验室中产生等厚干涉的常见装置是劈尖膜 和牛顿环。 劈尖膜 §等厚干涉 一、劈尖干涉: 劈尖干涉示意图: 发自点光源的单色光经凸透镜成为平行光,再经过45度角放置的半透半反射玻璃片反射后,垂直入射到空气劈尖上,自空气劈尖上、下两表面反射的光相互干涉,从显微镜中可观察到明暗相间、均匀分布的干涉条纹。 显微镜 (a)观察劈尖干涉装置,(b)干涉条纹 n 2 n 1 n 1 光程差: 明纹 暗纹 1 1 n 2 Δ 2 = e 2 + l + ( ) 1 k 2 2 l k Δ = l 2 2 k =0,1,2,... ( ) k =1,2,... ( ) k =2 2 l l = sin θ e k + 1 e k 相邻两暗纹的间距: e k + 1 e k θ l 劈尖公式 ) 暗纹条件 ( + ( ) 1 k 2 2 = l n 2 2 2 + Δ = e l = e k + 1 + ) 1 k ( n 2 2 l = e k k n 2 2 l = n 2 l l = n 2 2 sin θ l = e k + 1 e k n 2 2 l 讨论: 1、 Δ=Δ(e)光程差是介质厚度的函数。 l = n 2 2 sin θ l 等厚干涉:对于同 一级干涉条纹,具有 相同的介质厚度 因此干涉条纹是一系列平行于劈尖棱边 的明暗相间的均匀分布的直条纹。 2、利用劈尖可以测量微小角度,微小长度以及光的波长。 3. 问题:在尖端是暗纹还是明纹? 在尖端e=0,光程差取决于半波损失!如图情况下尖端是暗纹。 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 4. 干涉条纹的移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变小,条纹变宽, 条纹向右移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动 夹角变大,条纹变密 条纹向左移动
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