摘要
摘要
本文采用ICP—AES摄谱法研究丁铁基体效应(光谱干扰和非光谱干扰)
及其校正方法。提出光谱干扰系数校正法和浓度干扰因子法联合校正技术,
对铁基体效或进l亍了有效技正,实现了钢铁及英舍金样品ICP—AES无基倦匹
配 分孝厅,合残榉及掭准镶样数分季厅结巢{歪明了该方法熬可褥搜。暹过对
{C 数T。一n。的测定及对于撬阂子式备磺豹诗算,进一步辑究了铁基钵
菲光谱干抗产生的视理。缩果表髓:在~定浓度范围内,铰基体对ICP放电
参数Ir。。。和n。没有显著影响,活度系数项的贡献是非光谱干扰效应的主要来
源。研究结果还表明,铁基体对杂质元索捡出限的影响亦不大,该法可用于
钨钢、普碳钢、碳索比色钢,低食金钢等钢铁会金样品的直接分析。
关键词:电感耦会等离子1∥原予发射光谱彩钢铁,光谱于疵jE光谱干扰V
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