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第五章 General Test Items Discussion – Functional Test(功能测试) 输入输出波形示意图 第六章 AC参数的测试（时间特性） 1.Tr上升时间（tf下降时间） 通常注意事项 1.与IC工作频率有关，tr（tf）越小则频率越高 2.strobe时间要尽量短 3.两个参数都是对输出而言 4.freq工作频率＝1/(tr+tf)(?有待商榷) 5.tr（tf）5ns(TTL电路) tr（tf）10ns（CMOS电路） 测试流程 使用2分法进行测试，具体方法如下 如图所示，t1，t2分别为两个strobe点（宽度要尽量小），S0,S1实质上就是要找到的VOH和VOL，此处是加以区别，避免混乱。此VOH和VOL是测试tr和tf需要设置的，而前面通过VOH参量测试量测出来的VOH指这里的VOHmin（VOL此处没有表示出来因其在此处没有作用） **令S0=90％VOHmin，取样点t3＝(t1+t2)/2,如果FAIL则t4=(t3+t1)/2,PASS则t4=(t3+t2)/2。以此类推直至取样点t处电压临界满足高电平，此t就是S0t **再令S1＝10％VOHmin，重复上步操作，找到S1t，tr＝|S0t-S1t| tf测试方法与tr相同 如何用低频测试机测试高频信号 测试高频时需要分频，具体如下 建立时间和保持时间的