基于光切显微镜的表面粗糙度参数的测量与研究创新.docVIP

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  • 2016-02-25 发布于湖北
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基于光切显微镜的表面粗糙度参数的测量与研究创新.doc

基于光切显微镜的表面粗糙度参数的测量与研究创新.doc

陕西理工学院毕业设计 题 目 基于光切显微镜的表面粗糙度参数的测量与研究 学生姓名 学号 所在学院 机械工程学院 专业班级 测控082 班 指导教师 完成地点 陕西理工学院(北区) 2011 基于光切显微镜的表面粗糙度参数的测量与研究 (陕理工机械工程学院测控技术与仪器082,陕西 汉中 723003) 指导教师: [摘要]基于光切法测量为基础原理,选用光切显微镜、CCD摄像系统、虚拟仪器及数字图像处理开发了表面粗糙度检测系统。详述了系统的硬件构成原理和核心器件CCD的选用方法;应用虚拟仪器开发平台LabVIEW及其视觉应用功能开发出检测系统的软件程序,运用图像处理技术从光切显微图像中提取出表面轮廓信号计算粗糙度评定参数。 [关键词]表面粗糙度;光切显微镜;CCD摄像头;图像处理; Measurement and study of surfac

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