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OLED光电性能综合测试系统的设计与开发 摘要 有机发光二极管(OrganicLightEmitting 具有许多优点，是一种新型的平板显示器件和二维光源。随着OLED 技术的进步及其产业化的推进，无论是OLED的研究还是生产过程 中的质量检测，都需要对OLED器件的各种特性参数做出快速准确 的测量。 本课题针对目前OLED器件特性参数测量中过程繁琐、效率低、 误差大等问题，设计开发了一套OLED光电性能综合测试系统。 在分析了OLED光电性能测试对系统要求的基础上，确定了系 统分为上位机和下位机的总体结构。‘上位机完成系统参数的设定， 测量数据的分析、实时特性曲线的绘制等工作。下位机实现对程控 电源的控制，亮度、温度、电压、电流等参数的实时测量，系统校 准、过压过流保护等功能。 LM3 S8962，设计了亮度、温度等模拟量采集接口电路、JTAG接口、 液晶显示接口、RS232接口以及系统电源等。前端测量电路以PIN 光电二极管作为亮度探测传感器，采用红外热电堆非接触式测量器 件温度，设计了传感器信号放大、信号调理电路以及量程自动切换 与校准电路，保证了亮度信号在大范围变化时测量的准确性。 完成了uC／OS．II实时操作系统的移植，根据系统实际需求对系 统任务进行了合理划分，设计了相应的底层驱动程序和应用层程序， 实现了下位机的各项功能。 上位机软件使用VisualC++高级程序语言开发，后台数据库采用 Server。系统软件实现了系统参数设置、数据通讯、数据处理、 SQL 数据分析与曲线绘制、数据库管理、信息查询、报表打印和系统维 护等功能。 OLED光电性能综合测试系统的开发过程和实际应用表明，本测 试系统实现了OLED多种光电性能参数和性能的快速准确测量，系 统运行稳定，具有一定的推广价值。 关键词： U oF DEVELoPMENT DESIGNAND FoRoLED SYSTEM PERFoRMANCE ABSTRACT device Diode(OLED)，newlyflat—display Emitting OrganicLight two．dimension OLED and source，hasadvantages．Both light many andtestof in withthe of research productionrapidprogress procedure and iS torealizefast OLED industrialization，itnecessary technology andits characteristicofOLED and testforvarious parameters accuracy productions． applied