bao-tiolt;,2gt;-zno系介质陶瓷及微波测试技术研究.pdf

中文摘要 介电性能测试两方面黪|、爨题。 联合取代鬣毒÷可形成复合墅匿溶体，产生滚襁烧结。S分+取代Ti4+， 形成置换型阎溶体，降低体系自由能，降低烧结温度。Sn4+和变价的 璃，露健烧结温度进一步降低到低瀣(960℃)。 通过控制预烧温度、烧结温度、球磨时间等工艺参数，调节系统 的相组成和微观结构，从而得到优异的介电性能。预烧过程中生成的 义。改变烧镭温度可以显著调节陶瓷的致密度稻介宅参数。球磨工兹 能够促进粉体细化和改变系统组分，对介电性能也有重要影响。 研究得到两种BTZ系微波陶瓷材料，有关参数如下： 烧结温度 相对密度 占， 岱。 Q僮(5GHz) 1160。C 198．5％ ／36 ≥13．000 04-30 ppm／4C !鲤羔 至!兰：!魉 至!兰