透射电镜制样要点.pptVIP

透射电镜制样 样品要求 （1）粉末样品：为避免粉末脱落，粒径需小于1μm，请先在显微镜下观察确认。大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察。 （2）薄膜样品：厚度一般需小于100nm，因材料而异。 （3）其它类样品须自行制样处理。 （4）场发射透射电镜的场发射电子枪的亮度是钨灯丝电子枪的1000倍，真空度也高出1000倍，电子束照射样品所产生的温度很高，为保证场发射枪灯丝具有较长的寿命，以及镜筒和各级透镜的洁净，对检测样品有特殊的要求。 具有毒性、腐蚀性、刺激性、易燃、易爆、磁性、放射性、挥发性、不符合生物安全标准等对人员和仪器有害的样品，以及在电子束照射下会分解或释放出气体的样品及有机物、高分子、和易被电磁透镜吸引的粉末样品。低熔点的材料如锡、铅等会产生相变和蒸镀效应，有可能造成镜筒的污染，请勿预约电镜测试。 由于电子束的穿透能力比较低（散射能力强），因此用于TEM分析的样品厚度要非常薄，根据样品的原子序数大小不同，一般在10～200nm之间。要制备这样薄的样品必须通过一些特殊的方法。根据原始样品的不同形态，TEM样品可分为间接制样和直接制样。 要求： (1) TEM应用的深度和广度一定程度上取决于试样制备技术。 （2）供TEM分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100~200nm为宜，对于高分辨TEM样品要求厚度在5~10nm。 （3）所制