材料测试技术习题精要.ppt

材料测试技术 复习课2 1. .最常用的X射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 2. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。 3. 可以提高TEM的衬度的光栏是（ B ）。 A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 4. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ）。 A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。 5. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ C ）。 A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。 6.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ √ ） 7.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（ × ） 8.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。（ × ） 9.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（ × ） 10.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（√ ） 11.分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。 答：成像操作时中间镜是以物镜的像作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的像平面重合；衍射操作是以物镜的背焦点作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的背焦面重合。如图所示： 12. 德拜照相法中的底片安装方法有： 正装 、 反装 和 偏装 三种。 13. X射线物相分析方法分： 定性 分析和 定量 分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的 定量 分析方法。 14. 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 15. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ c ）。 a．哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。 16. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a．第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。 17. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a．球差 ；b. 像散 ；c. 色差。 18. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ a ）。 a．高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 19. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。 a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 20.什么是缺陷的不可见性判据？如何用不可见性判据来确定位错的布氏矢量？ 答：所谓缺陷的不可见性判据是指当晶体缺陷位移矢量所引起的附加相位角正好是π的整数倍时，有缺陷部分和没有缺陷部分的样品下表面衍射强度相同，因此没有衬度差别，故而看不缺陷。 利用缺陷的不可见性判据可以来确定位错的布氏矢量。具体做法是先看到位错，然后转动样品，选择一个操作反射g1，使得位错不可见。这说明g1和位错布氏矢量垂直；再选择另一个操作反射g2，使得位错不可见；那么g1 × g2 就等于位错布氏矢量 b。 21.证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。 以入射X射线的波长λ的倒数为半径作一球（厄瓦尔德球），将试样放在球心O处，入射线经试样与球相交于O*；以O*为倒易原点，若任一倒易点G落在厄瓦尔德球面上，则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射。 证明：如图，令入射方向矢量为k（k = 1/λ），衍射方向矢量为k，，衍射矢量为g。则有g = 2ksinθ。∵g=1/d；k=1/λ，∴2dsinθ=λ。即厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。 22.作图并证明公式：Rd=Lλ。 作图：以1/λ为半径作厄瓦尔德球面，入射线经试样O与厄瓦尔德球面交于O*点，与荧光屏交于O，点；衍射线与厄瓦尔德球面交于G点，与荧光屏交于A点。O*G 是倒易矢量g，O，A=R，O O，=L。 ∵透射电子显微镜的孔径半角很小（2-3°） ∴可近似认为g//R 有⊿OO*G≌⊿O O，A OO*/L = g/R 将OO*=1/λ，g = 1/d代入上式 得：Rd=Lλ 23.分析电子衍射与X射线衍射有何异同？（8分） 答：电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件。 首先，电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角θ很小，约为10-2rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近π/2