基于三维芯片热驱动的扫描测试策略.pdfVIP

第 期 电 子 学 报 ６ Ｖｏｌ．４１ Ｎｏ．６ 年 月 ２０１３ ６ ＡＣＴＡＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＡＳＩＮＩＣＡ Ｊｕｎ． ２０１３ 基于三维芯片热驱动的扫描测试策略 １ ２ 神克乐 ，向 东 （ 清华大学计算机系，北京 ；清华大学软件学院，北京 ） １． １０００８４ １０００８４ 摘 要： 本文针对三维芯片测试，首先提出了一种扫描结构，这种结构考虑了硅通孔（ ）互连的