小鼠脑缺血再灌后nnos介导的神经元氧化dna损伤分布及机制.pdf

摘要 摘要 背景：脑缺血／再灌注(brain 病理基础和临床治疗中的关键问题。缺血引起的氧化DNA损伤，常见的类型有 和3’．PG。这种损伤在脑缺血再灌注后数分钟即己发生，并在一定的时间和范 围内可以得到修复，如果损伤没有得到及时纠正，超过机体的代尝能力，将最 终导致神经元细胞的死亡。 目的：本文旨在采用EXOSS法检测小鼠脑缺血／再灌注后神经元细胞内AP 位点和3’．P04两种氧化DNA损伤及其在脑组织中分布；探讨nNOS与脑缺血／再 灌注后神经元氧化DNA损伤的相关性。 方法：前脑缺血／再灌注模型的制作：夹闭双侧颈总动脉90min，再灌注 30min，动物分为三组，A组(n=6)：脑梗塞+3BR7NI+豆油；B组(n=6)：脑梗 塞+豆油；A、B两组分别在双侧颈总动脉夹闭术5min后，腹腔内注射nNOS抑 处死动物。三组分别用大肠杆菌核苷酸外切酶III敏感位点法(EXOSS)检测 AP位点和3’．P04末端型两种氧化DNA伤。所得结果采用SPSS13．0进行统计 处理，组间比较用卡方检验(x2检验)，P值小于0．05时差异有显著性。 结果：EXOSS法可以定位检测到氧化DNA损伤，主要分