元器件失效模式(RAC)资料.doc

元器件失效模式及其失效比例 元器件名称 失效模式 比例% 元器件名称 失效模式 比例% 二极管 电压调整二极管 （齐纳） 开路 45.0 普通二极管 短路 49.0 参数变化 35.0 开路 36.0 短路 20.0 参数变化 15.0 晶体管 微波二极管 开路 60.0 双极型晶体管 短路 73.0 参数变化 28.0 开路 27.0 短路 12.0 场效应晶体管 短路 51.0 整流二极管 短路 51.0 输出偏低 22.0 开路 29.0 参数变化 17.0 参数变化 20.0 开路 5.0 可控硅整流二极管 短路 98.0 输出偏高 5.0 开路 2.0 GaAs场效应晶体管 短路 61.0 小信号二极管 参数变化 58.0 开路 26.0 开路 24.0 参数变化 13.0 短路 18.0 射频晶体管 参数变化 50.0 开关二极管 短路 40.9 短路 40.0 不连续 22.7 开路 10.0 开路 9.1 复式晶体管 短路 61.1 烧毁 9.1 加压不当 11.1 参数负漂移 4.5 基极开路 5.6 游离颗粒 4.5 发射极开路 5.6 其它 9.1 连续损耗 5.6 半导体闸流管 断不开 45.0 无输出 5.6 短路 40.0 结构 5.6 开路 10.0 光电子器件 闭合失效 5.0 发光二极管 开路 70.0 三端双向可控硅 开关二极管 断开失效 90.0 短路 30.0 闭合失效 10.0 光电耦合器 退化 54.9 电压基准二极管 （齐纳） 参数变化 69.0 不能切换 27.5 开路 18.0 过电应力 5.9 短路 13.0 开路 5.9 接线故障 3.9 元器件失效模式及其失效比例（表续） 元器件名称 失效模式 比例% 元器件名称 失效模式 比例% 光电耦合器（续） 污染 2.0 运算放大器（续） 功能失效 1.5 光电传感器 短路 50.0 电压基准源 电学失效 34.5 开路 50.0 氧化层缺陷 34.5 模拟电路 参数不符 13.8 线性电路 输出超差 77.0 电压不当 6.9 无输出 23.0 机械故障 3.4 开关集成电路 电学失效 56.6 破碎 3.4 输出错误 16.8 不连续 3.4 不开关 11.5 电压调整器 电学失效 64.9 机械损伤 10.4 电过应力 20.5 无输出 2.5 短路 4.6 漏电 2.2 接线失效 4.3 通用放大器 开路 29.6 机械失效 4.3 电过应力 23.2 输出错误 1.3 参数不符 21.6 比较器 电学失效 77.9 机械过应力 16.8 机械失效 13.9 导线故障 4.8 电过应力 2.6 增益偏低 4.0 开路 2.5 塑封放大器 参数不符 94.9 参数不符 2.2 低电平不足 1.7 电压错误 0.8 短路 1.7 塑封电压比较器 参数不符 49.6 功能失效 1.7 电失效 35.8 陶瓷封装放大器 参数不符 90.0 机械故障 8.0 输出偏低 2.5 开路 2.9 机械失效 2.5 接线故障 2.2 电性能失效 2.5 污染 1.5 外壳裂缝 2.5 振荡器 漏电 40.0 运算放大器 电性能失效 60.0 定时失效 16.0 机械失效 19.2 污染 16.0 过电应力 9.1 电压不当 12.0 参数失效 8.1 接线不当 8.0 开路 2.1 起泡/脱皮 8.0 元器件失效模式及其失效比例（表续） 元器件名称 失效模式 比例% 元器件名称 失效模式 比例% 控制器 短路 34.8 ROM 数据丢失 24.4 参数不符 28.4 短路 21.5 开路 20.8 解码失效 18.2 功能失效 10.6 漏电 13.4 导线故障 3.4 行/列失效 12.0 偶然失效 1.9 数据溢出 10.5 微型控制器 接线故障 38.7 陶瓷封装存储器 性能退化 65.9 短路 21.3 机械损伤 26.8 封装裂纹 14.0 短路 4.5 功能失效 12.1 开路 2.4 开路 8.3 位失效 0.2 电过应力 5.7 数据溢出 0.2 多路复用器 输出错误 23.5 逻辑电路 电性能失效 22.0 阵列 短路 36.5 开路 16.5 功能失效 14.4 电过应力