无损检测第五次课zy课件.ppt

超声波检测技术 超声波检测技术 2.1 超声波的物理本质 2.2 超声波的分类 2.3 超声场的特征 2.4 超声场在介质中的传播特性 2.5 规则反射体的回波声压 2.6 超声检测仪、探头及试块 2.7 超声波检测方法和通用检测技术 2.8 超声检测技术的应用 1、纵波扫描速度调节 2、横波扫描速度的调节 故有声程调节法、水平调节法、深度调节法三种 （1）声程调节法 显示屏水平刻度值τ与工件中对应横波声程χ之比表示扫描速度的方法。 （2）水平调节法 水平调节法是指示波屏上水平刻度值τ与反射体的水平距离L成比例，即τ∶L=1∶n。这时示波屏水平刻度值直接显示反射体的水平投影距离（简称水平距离），多用于薄板工件焊缝横波检测。 利用CSK-IA试块调节： 先计算R50、R100对应的水平距离l1、l2： 然后将探头对准R50、R100，调节仪器使B1、B2分别对准水平刻度l1、l2。当K=1.0时，l1=35 mm，l2=70 mm，若使B1-35，B2-70，则水平距离扫描速度为1：1。 （3）深度调节法： 深度调节法是使示波屏上的水平刻度值τ与反射体深度h成比例，即τ：h=1：n，这时示波屏水平刻度值直接显示深度距离。常用于较厚工件焊缝的横波检测。 利用CSK-IA试块调节： 先计算R50、R100圆弧反射波B1、B2对应的深h1、h2： 然后调节仪器使B1、B2分别对准水平刻度值h1、h2。当K=2.0时，h1=22. 4 mm、h2=44.8 mm，调节仪器使B1、B2分别对准水平刻度22.4、44.8，则深度1∶1就调好了。 2、横波定位的复杂性分析： 缺陷定位的目的，就是在发现缺陷后，如何给出它的三维坐标，并在图纸上表示清楚。习惯上，采用直角坐标来表示。即给出X,Y,h.参见下图: 曲线表示三种关系： 不同距离的大平底回波dB差 不同距离的不同大小平底孔回波dB差 同距离的大平底与平底孔回波dB差 二、根据缺陷特征分析缺陷性质 缺陷特征是指缺陷的形状、大小和密集程度。 平面形缺陷 在不同的方向上探测，其缺陷回波高度显著不同。 点状缺陷 在不同的方向探测，缺陷回波无明显变化。 密集形缺陷 缺陷波密集互相连接，在不同的方向上探测，缺陷回波情况类似。 三、根据缺陷波形分析缺陷性质 缺陷波形分为静态波形和动态波形两大类。 静态波形是指探头不动时缺陷波的高度、形状和密集程度。 动态波形是指探头在探测面上的移动过程中，缺陷波的变化情况。 1、静态波形 一般声阻抗小、表面光滑的缺陷，回波较高，波形陡直尖锐，如气孔、白点等。反之，波形宽度大且带锯齿状，如夹渣等。 2、动态波形 2.8.3 缺陷性质的分析 * * 2.8 超声波检测技术的应用 从根本上说，超声波检测技术的基本任务就是： ① 有效的发现缺陷； ② 发现缺陷后，能够准确的给缺陷定性、定量、定位； ③ 根据工艺要求, 提出返修建议及相关的探伤工艺； ④ 按规定格式，出据检测报告。  一、扫描速度 仪器显示屏上时基扫描线上某一回波的水平刻度值τ与工件中对应的实际声程（单程）x的比例关系，即τ︰x=1︰n称为扫描速度（时基线扫描比例）。 如扫描速度1∶2表示仪器示波屏上水平刻度1 mm表示实际声程2 mm。 通常，探测范围占据 水平刻度的80%或100%。 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 调节1：20的扫描速度 调节“深度微调”、 “脉冲位移”等旋钮 使底波B1、B2分别对准 显示屏上水平刻度5、 10即可。 纵波扫描速度调节 工件 缺陷 L h β x 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 R50 R100 300 91 L50 L100 β 100 200 CSK-1A标准试块 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 2.8.4 缺陷位置的测定 二、缺陷定位 1、纵波探伤时缺陷定位 设仪器按1︰n调节的扫描速度，在探伤中发现一缺陷波，在显示屏上该缺陷波的水平刻度值为 ，则缺陷至探头的距离为 例3-2：用某直探头探伤一钢制工件，仪器按1︰5调节扫描速度，探伤中在显示屏上水平刻度值60处发现一缺陷波，求此缺陷的位置。 解：缺陷至探头的距离为 （mm） 2.8.4 缺陷位置的测定 工件 X y L Y= y＋L A A F L y h F A－A 2.8.4 缺陷位置的测定 2、横波探伤时缺陷定位 (1)按声程调节扫描速度时