x射线荧光光谱法详解.pptVIP

X射线荧光光谱法 1.X射线荧光光谱法简介 2.方法和原理 3.仪器结构和原理 4.实验技术 5.应用 X射线是1895年由德国物理学家W. C. Rontgen发现的，当时对其实质并不清楚，所以取名为X射线。 虽然不清楚其实质，但它具有可穿透不透明物质的性质，因此很快在医学和工业探伤上得 到了应用。 1912年，M. Von Loue发现了晶体对X射线的衍射现象，证实了X射线是一种电磁波，具有波动性，并可用晶体作为X射线衍射光栅。 次年，W. L.和W. H. Bragg推导出著名的布拉格公式，对X射线通过晶体时产生的衍射现象有了精确的数学表达式。 同年，H. G. Moseley发现元素的X射线特征波长的倒数的平方根与原子序数成正比，从而奠定了X射线光谱定性分析的基础。 1923年，D. Coster和G. VonHevesy通过发光X射线分析法首先检测出用化学方法不能从错中分离出来的铅，其后，又有学者用该法从辉钥矿中发现了徕,X射线分析成为发现新元素的重要手段之一。 X射线荧光光谱法是利用样品对x射线的吸收随样品中的成分及其众寡变化而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法. 它具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少等优点. x射线荧光法不仅可以分析块状样品，还可对多层镀膜的各层镀膜分别进行成分和膜厚的分析. 当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在较外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 当用x射线（一次x射线）做激发原照射试样，使试样中元素产生特征x射线（荧光x射线）时，若元素和实验条件一样，荧光x射线的强度Ii与分析元素的质量百分浓度Ci的关系可以用下式表示： 式中μm是样品对一次x射线和荧光射线的总质量吸收系数，K为常数，与入射线强度I和分析元素对入射线的质量吸收系数有关。 在一定条件下（样品组成均匀，表面光滑平整，元素见无相互激发），荧光x射线强度与分析元素含量之间存在线性关系。根据谱线的强度可以进行定量分析 特征X射线经准直器准直，投射到分光晶体的表面，按照布拉格定律产生衍射，使不同波长的荧光x射线按波长顺序排列成光谱。这些谱线由检测器在不同的衍射角上检测，转变为脉冲信号，经电路放大，最后由计算机处理输出。 一次x射线发生系统 x射线管产生的x射线由两部分组成：具有连续波长成分的连续x射线和具有靶材料元素特性波长的特征x射线。 连续x射线的产生是由于x射线管内高速运动的电子撞击靶原子后受到阻尼，将部分能量传递给靶材料原子，引起轫致辐射所致。 当x射线管的加速电压提高到某一临界值时，就会在连续波长的某些波长位置出现强度很大的线状光谱。这些线状光谱取决于靶材原子，而与入射电子的能量无关。他反映靶材元素的性质，所以成为特征x射线。 分光系统 分光系统由入射狭缝，分光晶体，晶体旋转机构，样品室和真空系统组成。其作用是将试样受激发产生的二次x射线（荧光x射线）经入射狭缝准直后，投射到分光晶体上。晶体旋转机构使分光晶体转动，连续改变θ角，使各元素不同波长的x射线按布拉格定律分别发生衍射而分开，经色散产生荧光光谱。 当x射线入射到物质中时，其中一部分会被物质原子散射到各个地方去。当被照射的物质为晶体时，其原子在三维空间有规则排列，且原子层见的间距与照射x射线波长有相同数量级时，在某种条件下，散射的x射线会得到加强，显示衍射现象。当晶面距离为d，入射和反射x射线波长为λ时，有相临两个晶面反射出的两个波，其光程差为2dsinθ，当该光程差为x射线的整数倍时，反射出的x射线相位一致，强度增强，为其他值时，强度互相抵消而减弱。所以只有满足2dsinθ=nλ时，即波长为λ的一级x射线及λ/2，λ/3…的高级衍射线在出射角θ方向产生衍射，从而达到分光的目的。 常用的检测器有流气正比计数器（FPC）和闪烁计数器（SC。前者用于轻元素检测；后者用于重元素的检测。 脉冲高度分析器（PHA）是能量甄别电子线路装置。其作用是将波长λ为的倍频信号（高次线）去除。 X射线荧光光谱仪实物图 　固体样品和液体样品Be-U之间任何元素的分析 　SST超尖锐陶瓷X光管256道DMCA多道分析器，2 秒测定一个元素 试样制备 目前X射线荧光仪器性能稳定，并由高性能的电子计算机处理数据，可以说分析误差主要由来自样品差异和样品制备方法不当所致。 例如，由于样品化学组成不同，存在共存元素的干扰；由于样品晶型、粒度、密度、偏析、表面光洁度等物理状态不同而导致误差。为了减小样品差异引起的分