XRD分析方法课件.ppt

材料分析测试方法 屈树新 西南交通大学 材料先进技术教育部重点实验室 材料科学与工程学院 分析测试中心 复习题 查阅文献1篇（XRD分析试样的物相）； 或自己的XRD实验结果； 试进行物相分析 X射线衍射可以得到的信息 物相鉴定 定性 定量 晶胞参数的确定 晶面的择优取向生长 结晶度的测定 晶粒尺寸的测定（谢乐公式） 膜厚的测定 薄膜的应力分布 衍射峰的强度？ 物质结构状态与散射(衍射)谱线 自然界中物质常见的结构状态包括： 原子完全无序(稀薄气体) 原子近程有序但远程无序(非晶) 原子近程有序和远程有序(晶体) 物质结构状态与散射(衍射)谱线 原子完全无序情况 ，例如稀薄气体。在进行X射线分析时，只能得到一条近乎水平的散射背底谱线。 物质结构状态与散射(衍射)谱线 原子近程有序但远程无序情况，例如非晶体材料。由于近程原子的有序排列，在配位原子密度较高原子间距对应的 2θ 附近产生非晶散射峰。 物质结构状态与散射(衍射)谱线 非晶体材料的近程原子有序度越高，则配位原子密度较高原子间距对应的非晶散射峰越强，且散射峰越窄。 物质结构状态与散射(衍射)谱线 理想晶体的衍射谱线，是布拉格方向对应的 2θ 处产生没有宽度的衍射线条。 前提是不存在消光现象。 物质结构状态与散射(衍射)谱线 物质结构状态与散射(衍射)谱线 物质微区不均匀性，例如存在纳米级别的异类颗粒或孔隙，则会在 2θ5o 范围内出现相应的漫散射谱线即小角散射现象。 衍射强度 衍射积分强度：X射线受晶体中众多电子散射后的干涉与叠加结果。原子在晶胞中位置及原子种类则决定了衍射强度。 衍射强度 有两种类型的散射 相干散射：波长与入射线波长相同即能量未变化，也称汤姆逊散射 非相干散射：波长则大于入射线波长即能量降低。称为康普顿散射 非相干散射不能在晶体中参与衍射，只在衍射谱线上形成强度随 sinθ/λ 增加而增大的连续背底， 入射波长愈短、被照物质元素愈轻，则这种效应愈显著。 二次特征辐射：当入射X射线将样品原子内层电子击出，从而产生光电效应及光电子。原子被击出内层电子后，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时发生二次特征辐射。 X射线衍射可以得到的信息 定量分析 根据衍射峰（线）的强度； 实际晶体不具有理想的完整性； 入射线也不可能完全平行和单色； 在同一实验条件下，衍射的相对积分强度I I＝M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO) M:多重性因数； Lp：洛伦兹偏振因数； F2：结构因数； e-2M：温度因数； A*(θ)：吸收因数； (PO)：择优取向因数 X射线衍射定量分析 因此根据衍射强度，从理论上将无法精确确定混合物中的精确含量； 不仅要求鉴别物相的种类，而且要求测定各物相的相对含量，进行定量分析； 各相的衍射线的强度，随该相含量的增加而提高 各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而须修正。 朗伯－比尔定律 当用一适当的波长的单色光照射吸收物质的溶液时，其吸光度与溶液浓度和透光液层厚度的乘积成正比 A＝kcb I=kc A：吸光度； k：比例常数，与入射光的波长，溶液的性质、厚度、浓度以及温度有关； c：溶液浓度； b：溶液厚度。 X射线衍射定量分析 单线条法（外标法、直接对比法） 测量混合样品中欲测相（A相）某根衍射线的强度并与纯A相同一条强度对比，既可定出A相在混合样品中的相对含量 A相的质量分数 WA=IA/(IA)0 如：某样品由αAl2O3和γAl2O3组成，欲测定αAl2O3在混合样品中的质量分数， 先用衍射仪测量纯αAl2O3某衍射峰的强度（一般用最强线，但不应有其他衍射峰的重叠）， 为（IA）0。 再在同样实验条件下测定混合样中αAl2O3同一根线的强度IA， 简单但精度稍差。 X射线衍射定量分析 内标法 待测试样中含有多个物相 各相的质量吸收系数不同。 先完成工作曲线，确定混合物中的不同组分的含量。 X射线衍射定量分析 例： 按不同配比均匀混合A和B相，如100:0， 90:10， 80:20， 70:30， …… 分别测试其X射线衍射，计算衍射主极大的峰的积分强度IA/IB， 以 IA/IB为纵坐标，A物质含量为横坐标, 作工作曲线。 测试未知试样的X射线衍射图谱，计算其中衍射主极大的峰的积分强度IA/IB， 根据工作曲线则可以测得其中组分的含量。 工作曲线 X射线衍射定量分析 K值法及参比强度法（自学） 物相定量分析的准确度与样品状况有密切关系 I＝M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO) 试样颗粒的大小， 混合样中各相分布均匀，避免微晶体的择优取向。 X射线衍射可以得到的信息 晶面的择优取向生长 试样中的晶粒显著倾向于某一晶体学方向称为择优取