PQD-3桥堆快速筛选台技术说明书解析.doc

PQD-3 桥堆快速筛选台 技术说明书 杭州萧山专用仪器厂 二00四年元月 PQD—3桥堆快速筛选台 技术说明书 1.系统简介 本筛选台是参照日本JIS标准及国家标准，并利用“75”期间快速筛选成果研制而成。采用微电脑控制，利用二极管热敏参数作为失效判据，在3-5秒内对各二极管的VF、IR、VDR进行常温和高温一次性测试筛选，并能剔除热阻大，瞬间热开路，高温漏电流大等热不稳定性器件，不仅可以替代常规测试，而且可取代直流老化和高温热测。 2. 主要技术指标: 正向压降VF(1-4) 测试范围： 0.1V — 2V 误差±5% 测试条件： 1mA — 10A 误差±5% 反向漏电IR(1-4) 测试范围： 0.1uA — 1mA 误差±5% 测试条件： 5V — 1000V 误差±5% 反向压降VDR(1-4) 测试范围： 20V — 1000V 误差±5%