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微弱信号检测技术 —— 光电二极管检测电路的噪声分析 光电检测电路中主要的噪声来源 （1）光电转换器件产生的噪声，噪声类型主要是热 噪声和散粒噪声。 （2）前置放大器产生的噪声，噪声类型主要是热噪 声。 （3）外部噪声，包括：辐射源的随机波动，检测电 路受到的电磁干扰等…… 光电二极管噪声 （1）Cp0：光电二极管P—N型材料之间耗尽层宽度产生。 （2）R0：与光电二极管零偏或正偏有关，主要噪声来源，产生热噪声和散粒噪声。 （3）Is：为散粒噪声电流，与光电流、暗电流和背景电流有关。 （4）Rs：体电阻，阻值很小，仅对电路的频率有影响。 总结：该噪声与光电二极管结构、材料、温度、工作电压及外部环境的干扰有关。 前置放大器的噪声 （1）输入端的电压平均值：为运算 放大器的均方根输入噪声电压。 （2）输入端的电流平均值：为运算放大器的均方根输入噪声电流。 （3）反馈回路中的电压：为运算放大器反馈电阻产生的热噪声电压。 总结：前置放大电路的噪声主要与前置放大器的噪声电压、噪声电流、温度变化及反馈电阻有关. 电路的噪声匹配问题 （1）右上图为放大器En- In 噪声模型。 En:模拟阻抗为零的噪声电压发生器； In:阻抗为无限大的噪声电流发生器； E ns:是信号源噪声(一般