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材料研究与测试方法综合性实验 学 号： 姓 名： 专业班级： 指导老师： 完成日期： 材料科学与工程学院 一种研磨介质物相组成与显微结构的综合分析 摘 要：对一种研磨介质进行XRD与SEM测试，得出此种研磨介质的物相组成及其显微结构。由XRD数据分析及SEM图片分析，结果表明此种研磨介质为氧化铝。 关键词：研磨介质 XRD SEM 物相组成 显微结构 正文 一、前言 研磨介质 ：磨机中靠自身的冲击力和研磨力将物料粉碎的载能体叫做研磨介质。[最常用的研磨介质为球介质和棒介质，有些情况下采用圆台、柱球、短圆棒等不规则形体，此称异形介质。制作研磨介质的材料多为经特殊加工的铸铁或合金，其次有陶瓷、氧化铝等；砾磨用的研磨介质砾石有近球体、椭球体、蛋形等，是由矿石或岩石专门制取的。扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗 粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ～ 35keV 的电子，以其交 叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺 序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集 转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。 二、实验器材：德国的BrukerD8-AdvanceX射线衍射仪,JEM-2000FX扫描电子显微镜 三、测试分析结构讨论： （一）SEM扫描电镜图片 图二 JEM-2000FX型电子显微镜在加速电压20keV,不同放大条件下拍摄的二次电子相。 图一、扫描电子显微镜在加速电压20keV，放大倍数4000下的二次电子像； 图二、扫描电子显微镜在加速电压20keV，放大倍数1000下的二次电子像； 结论 1.粒径范围：从图中可知，粒径分布在0.1-2um之间，主要粒径分布在1.5-2um之间； 2.形貌结构：由图可知，该粉体功能陶瓷形貌较规则，为六方片状结构。 （二）XRD物相分析 Jade5.0对XRD原始数据分析得样品XRD衍射图谱 图三—样品XRD衍射图谱 上图的所有的峰值为氧化铝的峰值 jade5.0数据分析：原始数据导入—背景及Kα2线扣除—图谱平滑处理—寻峰—物相检索。 结论：通过物相分析得出试样中的晶相为： 氧化铝 氧化铝：为六方晶系。晶胞参数：a=b≠c，α=β=90°，γ=120° 参考文献 [1] 曹春娥，顾幸勇主编.无机材料测试技术.武汉：武汉理工大学出版社，2011年 [2] 付江盛，范学运主编.计算机在材料科学中的应用.景德镇陶瓷学院。 1 图一 图二 o oo x o o x x o-CoTi03 o xo x