第五章.功能测试理论.docVIP

第五章:功能测试理论 1.基础术语摘要：? ?? ?本章节包含以下内容， 功能测试简介(? ?? ???? ?? 功能测试要求(??? 输入/输出信号的建立(? ?? ??? 功能测试的一些方法(? ?? ???基础术语? ?? ?功能测试包含一些新的术语，这里先简单介绍一下：? ?? ?? ???Output Mask 输出屏蔽，一种在功能测试期间让测试通道的输出比较功能打开或关闭的方法，可以针对单独的pin在单独的周期实施。? ?? ?? ???Output Sampling 输出采样，在功能测试中，DUT的输出信号在周期内的某个时间点被评估的过程。PE卡上的比较电路会将输出电压和预先设定的逻辑1（VOH）和逻辑0（VOL）相比较，然后测试系统做出pass或fail的判断。Output Sampling也称为“Strobing”。? ?? ?? ???Test Pattern 测试向量（国内很多资料将其译为“测试模式”），是器件一系列所设计的逻辑功能的输入输出状态的描述。输入数据由测试系统提供给DUT，输出数据则用于和DUT的输出响应相比较。在功能测试期间，测试向量施加到DUT并运行，当其中的一个期望输出与器件的实际输出不匹配时，一个failure就产生了。Test pattern也称为“Test Vectors”或“Truth Tables（真值表）