原子吸收(PPTminimizer).ppt

原子吸收仪器类型 单光束： 1）结构简单，体积小， 价格低； 2）易发生零漂移，空 心阴极灯要预热 双光束： 1）零漂移小，空心阴 极灯不需预热，降 低了方法检出限 （MDL）； 2）仍不能消除火焰的 波动和背景的影响 6.4 干扰及其消除 一、物理干扰 来源：试样粘度、表面张力的不同使其进入火焰的速度或喷雾效率改变引起的 干扰。 消除：可通过配制与试样具有相似组成的标准溶液或标准加入法来克服。 ?二、化学干扰 来源：Analytes (Target species)与共存元素发生化学反应生成难挥发的化合物所 引起的干扰，主要影响原子化效率，使待测元素的吸光度降低。 消除： 1. 加入释放剂：SO42-、PO43-对Ca2+的干扰----加入La(III)、Sr(II)---释放Ca2+； 2. 加入保护剂（配合剂）: PO43-对Ca2+的干扰---加入EDTA----CaY (稳定但易破坏) 。 含氧酸中Mg 和Al 形成MgAl2O4---使A急剧下降-----加8-羟基喹啉作保护剂。 3. 加入缓冲剂或基体改进剂：主要对GFAAS。例如加入EDTA可使Cd的原子化 温度降低。 4. 化学分离：溶剂萃取、离子交换、沉淀分离等 三、电离干扰 来源：高温导致原子电离，从而使基态原子数减少，吸光度下降。 消除：加入消电离剂（主要为碱金属元素化合物），产生大电子，从而 抑制待测原子的电离。如大量KCl 的加入可抑制Ca的电离， K K + e Ca++ e Ca 四、光谱干扰 1. 谱线重叠干扰：由于光源发射锐线，因此，谱线重叠干扰的较少。一旦发生重叠干扰，则要求仪器可分辨两条波长相差0.1?的谱线。 消除：另选分析线。如V线（3082.11?）对Al 线（3082.15 ?）的干扰； 多谱线的元素产生的谱线之间的干扰等。 2. 非吸收线干扰：来自被测元素自身的其它谱线或光源中杂质的谱线。 消除：减小狭缝和灯电流或另选分析线。 3. 火焰的直流发射：火焰的连续背景发射，可通过光源调制消除。 4. 火焰背景干扰 来自燃烧气的背景干扰 宽带吸收：火焰生成物的分子受激产生的宽带光谱对入射光的吸收； 粒子散射：火焰中粒子质对光的散射。 消除：以上两种干扰方式都产生正误差（A增加）。因干扰主要来自燃烧气， 因此可通过空白进行校正。 问题：双光束原子吸收可以进行空白校正吗？ 来自样品基体的背景干扰 宽带吸收：样品基体中分子或其碎片的形成、有机溶剂分子或其碎片对光 的吸收，如CaOH分子宽带对Ba线的干扰。 粒子散射：一些高浓度的元素，如Ti，Zr，W的氧化物，它们的氧化物具 有分馏效应且直径较大，可对光产生散射；有机溶剂的不完全 燃烧产生的微粒碳也会对光产生散射。 消除：更换燃气（如用N2O）；改变测量参数（T，燃助比）；加入辐射缓冲 剂(Radiation buffer。如果知道干扰来源，可在标准液和样品中加入同 样且大量的干扰物质)。 5. 非火焰背景干扰 非火焰的电热原子化（石墨炉）中产生的背景干扰，通常要比火焰原子化的干扰严重。 最近，采用石墨炉平台技术（Platform technology）、高新石墨材料、快速测光计和Zeeman背景校正等方法可将石墨炉背景干扰降低到和火焰背景干扰相同的水平。 下面将详细讨论几种背景校正方法。 1）邻近线背景校正（The two-line correction method） 参比谱线选择：参比线与测量线很近（保证二者经过的背景一致） 待测物基态原子不吸收参比线。 参比线是待测原子的非共振线或元素灯内惰性气体元素的谱线。 因为共振线（此时为分析线）的总吸光度AT包括基态原子的吸收A和背景吸收