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几种测量凸透镜焦距方法的比较 作者：兰鹏涛 （陕西理工学院物理与电信工程学院物理学专业物理1101班，陕西汉中723000） 指导教师：李静玲 [摘 要] 凸透镜焦距的测量方法和误差分析已经有很多研究，比如常见的有平面镜法、公式法、共轭法这三种测量凸透镜焦距的方法，本文着重研究这三种测量方法及其在不同条件下的优缺点，为学习者在测量凸透镜焦距时提供选择的明确依据。 [关键词] 凸透镜；焦距；平面镜法；公式法；共轭法；自准直法 引言 透镜焦距测量是大学光学实验的基础性实验也是光学实验中的必修实验，其中有很多文献提出了各种测量透镜焦距的方法，目前最新的测量方法有CCD辅助测量凸透镜焦距法，它是利用CCD摄像机辅助的精确测量凸透镜焦距的新方法，而且可以在透镜焦距未知的情况下求出共轭距。也有利用实物成虚像、虚物成实像的实验方法来测量凸透镜的焦距，其测量结果与实物成实像方法比较，测量结果的精度更高，是目前透镜焦距测量方法最值得推广的方法。还有常用的一些方法比如：平面镜法、公式法、共轭法这三种测量凸透镜焦距的方法，测量凸透镜焦距的方法有很多。但是对每种方法在不同条件下的优缺点研究却是少之又少。本文则将通过其中最常用的三种，即平面镜法、公式法、共轭法这三种测量凸透镜焦距的方法，通过实际测量及误差计算来评价这三种方法在不同环境中的选择应用。 1．测量凸透镜焦距的三种方法及其优缺点的讨论 1.1 平面镜法 ( 也常叫作自准直法 ) 具体实验方法：分为四步，第一步是用平行光汇聚法粗测待测凸透镜的焦距；第二步是将光具座放在水平的桌面上，然后将照明光源、物屏、待测透镜和平面镜放在光具座导轨上，调节各光学原件的光轴，使得各光学原件等高、共轴；第三步是移动透镜并适当调节平面镜的位置，那么就可以看到物屏上出现倒立的清晰的实像；第四步是取下平面境，观察像是否会消失：如果像不会消失，证明此像不是经平面镜反射所成的像，然后将平面镜安装好，重新找出等大倒立清晰的实像；如果像会消失，测出物屏及透镜的位置并记录对应刻度尺上的数值，那么二者数值之差就是透镜的焦距，重复做几次并取其平均值。在此实验中要正确辨别哪个是要观察的像是实验的关键。像对于物都是等大倒立的实像，如果将平面镜取走后像没有消失，则可以说明此物光没有经过平面镜的反射，而是透镜后表面对物光反射所形成的像。为什么会出现这种情况呢，是因为透镜的前表面对于物相当于凸面镜，根据凸透镜的成像规律，就不会对此物体的反射成实像；所以只有透镜的后表面，对于物相当于凹面镜，由凹面镜的成像规律，对此而言，经透镜折射后所形成的物光进行反射可以成实像，该反射光再次经过透镜折射形成等大倒立的实像，其像距是小于焦距的。反之，若将平面镜取走后，如果像会消失，则此像即为所求的像，那么这时测出的物距就和凸透镜的焦距相等。平面镜法测量简单描述就是在白灯前放一带有箭形缝隙的物屏,将被照亮的箭矢作为光源 (也就是“物”),在凸透镜的另一侧放上一个平面镜 ,并且调整物屏、凸透镜、平面镜使得它们三者共轴 , 要使平面镜反射回来的光线必须在物屏的箭矢旁边要形成一个很清晰的、并且与物等大的倒立的实象,这时在使用刻度尺测出凸透镜到物屏间的距离x那么x 即为凸透镜的焦距f. 用这种方法测出的凸透镜的焦距f的绝对误差是: . 那么光会不会在透镜表面就发生了反射，并没有经过透镜折射后再经平面镜反射呢？如果会，我们该如何避免这种误差呢？解决方案是：用平行光汇聚法粗测待测凸透镜的焦距；将光具座放置在水平桌面上，并将照明光源、物屏、待测透镜和平面镜放在光具座导轨上，调节各光学原件的光轴，使各光学原件等高、共轴；移动透镜并适当调节平面镜的方位，可看到物屏上出现倒立的清晰的像；取下平面境，观察像是否消失。如果像不消失，证明此像不是经平面镜反射所成的像，将平面镜安装好，重新寻找等大倒立清晰的实像；如果像消失，测出物屏及透镜的位置，二者之差即为透镜的焦距，重复几次取平均值。 优点是：测量方法最为简单 , 可以常用作简单、粗略测量凸透镜的焦距的测量 缺点是：测量的误差是非常大的 1.2 透镜公式法 (也叫做物距像距法 ) 透镜公式法简单描述是将凸透镜放在物屏和像屏之间 ,然后分别调节物屏、凸透镜、平面镜这些光学仪器使得它们三者共轴,再分别将物屏、凸透镜各置于某一位置，紧接着适当的调节它们之间的距离 ,然后移动像屏并使像屏上出现箭失清晰的并且倒立的实象 ,再用刻度尺分别测出物距 u 和像距 v , 将u和 v代入凸透镜焦距公式 , 那么就有： 整理可得： 然后分别假设物距 u 和像距 v 的直接测量的误差分别为和 , 再根据误差传递的一般公式计算可得出此方法测出透镜焦距的误差 , 用这种方法测出来的凸透镜的焦距 f 的绝对误差为： 由上面的公式即可算出f 。实验