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实 验 注 意 事 项 1.实验前先不连仿真器,给实验箱通电,若实验箱上的八段数码显示器显示字母“P”,表示实验箱无故障。 2.必须断电插拔线。 3.程序存入c:\dice51\51asm\*.c,程序名必须以英文字母开头,扩展名为.c。 4.若实验出现故障,可用以下程序单步运行(按F7键实现单步运行)验证, 实验一 定时/计数实验 一 实验目的 熟悉单片机内部定时/计数器的功能; 掌握定时、计数程序的初始化编制方法。 二 实验设备 DICE—5203 K实验开发系统,计算机 三 实验内容 (一)定时/计数器T0延时实验 已知系统时钟频率fosc =12MHZ,用定时/计数器T0延时, 编程使与P1.0口相连的发光二极管每隔1s发光状态改变,使 与P1.1口相连的发光二极管每隔5s发光状态改变,循环不止。 (二)定时/计数器T1计数实验 已知系统时钟频率fosc =12MHZ,用定时/计数器T1计数, 编程使按键每闭合5次,与P1.0口相连的发光二极管发光状态改 变(即T1每记录5个脉冲,P1.0取反一次)。 四、实验步骤 (一)定时/计数器T0延时实验 1、连接电源线和串行口数据线; 2、用插针将P1.0孔与发光二极管L1孔相连,P1.1孔与发光二极管L2孔相连; 3、打开DICE—5203 K实验开发系统的电源; 4、启动计算机,打开桌面软件文件夹,选择MS51仿真开发系统图标双击,进入软件编程界面; 5、编制程序,调试、运行; 6、观察发光二极管状态。 (二)定时/计数器T1计数实验 1.连接电源线和串行口数据线; 2.用插针将P1.0孔与发光二极管L1孔相连, P3.5孔与单脉冲输出孔相连; 3.打开DICE—5203 K实验开发系统的电源; 4.启动计算机,打开桌面软件文件夹,选择 MS51仿真开发系统图标双击,进入软件编程界面; 5. 编制程序,调试、运行; 6.反复扳动按键开关,观察发光二极管状态。 五.思考题: 1.实验(一)中,如果用T1 延时,使与P1.0口相连的发光二极管每隔2s发光状态改变,程序将如何编制? 2.实验(二)中,若使按键每闭合10次,与P1.1口相连的发光二极管发光状态改变,程序将如何编制? #include reg51.h //实验一(一)程序 #define uint unsigned int sbit P1_0=P1^0; sbit P1_1=P1^1; uint i=0,j=0; void main(void) { P1_0=0; P1_1=0; TMOD=0x01; EA=1; ET0=1; TH0=(65536-50000)/256; TL0=(65536-50000)%256; TR0=1; while(1); } void tim0(void) interrupt 1 using 1 { EA=0; i++; j++; if(i==20) {P1_0=!P1_0; i=0;} if(j==100) {P1_1=!P1_1; j=0;} TH0=(65536-50000)/256; TL0=(65536-50000)%256; EA=1; } #include reg51.h //实验一(二)程序 sbit P1_0=P1^0; void main(void) { P1_0=1; TMOD=0x06; EA=1; ET0=1; TH0=251; TL0=251; TR0=1; while(1); } void tim0(void) interrupt 1 using 1 { EA=0; P1_0=!P1_0; EA=1; } 实验二 定时、中断综合实验 一、实验目的 熟悉单片机定时、中断的功能; 掌握定时、中断程序的初始化编制方法。 二、实验设备 DICE—5203 K实验开发系统,计算机 三、实验内容 用定时/计数器T0定时,用中断方式编程,每隔10s 使与P1.0口相连的发光二极管闪烁10次(50ms中断一 次,200次即为10s),已知系统时钟频率 fosc=12MHZ,P1.0低电平灯亮,反之灯灭(灯闪烁时间 不少于150ms)。 四、实验步骤 1.连接电源线和串行口数据线; 2.用插针将P1.0孔与发光二极管L1孔相连; 3.打开DICE—5203 K实验开发系统的电源; 4.启动计算机,打开桌面软件文件夹,
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