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第二章 光辐射的调制 2.1 机械调制 2.2 电光调制 2.3 声光调制 2.4 磁光调制 2.5 电吸收光调制 2.1 机械调制 2.2 电光调制 在强电场作用下介质折射率改变而产生的光调制。适用于单色光源。 2.3 声光调制 利用超声波引起介质折射率变化而产生的光调制。 2.4 磁光调制 一、磁光效应 2.5电吸收光调制 量子受限斯塔克效应表现出很好的吸收特性:吸收边陡峭,热稳定性良好。电控可使吸收峰移动,从而使光通断。 的关系曲线 选取工作点: 若使 作正弦变化,频率为ω, 则有 要实现光强调制,超声波应是高频调幅波,则电-声换能器上驱动信号应是高频调幅电信号。 高频振荡(ωs)激发声光栅,产生布拉格衍射。 振幅调制(ω)使衍射光成为调制光。 将图像、声音信号加载到高频振荡(ωs)上,则衍射光就携带了图像、声音信号。 三、声光调制器的调制带宽 声波以比光波慢得多的速度在介质中传播。因此声波通过宽度为b的光束需要较长的渡越时间τ: 这就对最高的调制频率带来限制: 为了提高 选取 大的声光介质: 用细束(b小)激光 用较高的ωs 声光调制器的调制带宽不如电光调制器,但它光能利用率高,所需要的驱动功率小。在激光打印机、激光印刷设备中得到广泛应用。 磁场也能使晶体产生光各向异性,称为磁光效应。 1.法拉第效应 光波通过磁光介质、平行于磁场方向传播,线偏振光的偏振面发生旋转的现象。 磁致旋光 K:Verdet常数,与材料、波长相关。 非互易性:磁致旋光的方向决定于磁场方向 而与光传播方向无关。 以顺着磁场方向为基准, 光矢右旋(K0),介质为正旋体, 光矢左旋(K0),介质为负旋体。 非互易性的直接应用是光隔离器。 在法拉第效应装置中,设计N1、N2成45°角,线圈电流产生的磁场造成旋光角45°。 入射线偏振光的光矢右旋45°,刚好通过检偏器,光从左向右导通 ;若光从检偏器端射入,线偏振光通过介质仍然右旋45°,光矢与N1方向垂直,不能通过起偏器,从右向左不导通。 光隔离器是光通信系统中必不可少的器件。 * * * * 光辐射的调制是用数字或模拟信号改变光波波形的幅度、频率或相位的过程 在光通信系统中, 需要把声音、图像、数据信息加载到光波上进行传输。 在光电检测系统中, 使探测光为调制光,可以比非调制光 具有更强的抗干扰能力。 光辐射的调制方法: 内调制:即LD和LED的直接调制 外调制:将光源与调制器分开设立 外调制器: 机械调制 电光调制声光调制 磁光调制 外调制技术适用于所有光源。 电吸收光调制 利用斩波器通断光通量,使探测光成为调制光。 调制光并配上合适的有源带通滤波器,以克服杂散光的干扰 。 斩波器 有源带通滤波器 探测器输出的光电流 设计有源带通滤波器,f0为方波频率。通频带△f窄,杂散光被滤去。 优点:容易实现;能对辐射的任何光谱成分进行调制。 缺点:有运动部分,寿命较短,体积较大,调制频率不高。 一些机械调制装置 一、电光效应 线性电光效应(Pockels) 二次电光效应(Kerr) 介质原本是单轴晶体。 介质原本是各向同性晶体。 电光调制基于线性电光效应。 1. 的纵向电光效应 KDP负单轴晶体 强电场E//Z轴,KDP变为双轴晶体;线偏振光沿Z轴入射,分解成X、Y方向上振幅相同的两个线偏振光。 光传播方向与电场方向一致 与X轴对应的主折射率: 与Y轴对应的主折射率: 式中,no为KDP晶体o光折射率, 为电光系数。 X、Y方向两偏振光射出晶体时有光程差: 则相位差为: 半波电压 : 造成光程差 2. 的横向电光效应 光传播方向与电场方向垂直 对KDP晶体采用45°-Z切。强电场E//Z轴,KDP变为双轴晶体。入射光沿X轴方向进入晶体,其偏振方向与Z、Y成45°,在晶体中分解为Z、Y方向两个振幅相同的线偏振光。 与Z轴对应的主折射率: 与Y轴对应的主折射率: 式中ne是晶体e光折射率,E=U/d,U为外加电压。 两个线偏振光射出晶体时有光程差: 则相位差为: 消除自然双折射 横向电光效应的优点: 适当地增加 L/d ,就可以增强电光效应的作用而降低晶体上所需的电压;电极设在横向,不影响光的传播;在外加电压 U一定时,加长晶体通光长度并不影响晶体内的电场强度,因而可以加长晶体长度获得较大的相位延迟。 半波电压 为: 通常,纵向 是数千伏,横向 只是数百伏。 3.电光晶体材料 用于线性电光效应的
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