第二节原子荧光光谱法资料.ppt

* * 日盲光电倍增管 光阴极材料—Cs-Te； 波长范围：160~320nm； 最灵敏响应波长：254nm； 窗体材料：石英。 * * 干扰消除 荧光淬灭-主要干扰：减少溶液中干扰离子的浓度 散射光干扰：正干扰，采用预混火焰、增高火焰观测高度和火焰温度，清洗原子化器等以减少散射干扰 氢化物发生中的干扰 液相干扰：氢化物的发生过程中过度金属元素及其他可形成氢化物的元素的干扰（化学干扰） 消除：络合掩蔽、分离（沉淀、萃取）、加入抗干扰元素、改变酸度、改变还原剂的浓度、改变干扰元素的价态等。 气相干扰：氢化物传输过程中（物理干扰） 气相干扰远小于AAS * * 仪器主要参数的选择 光电倍增管负高压 灯电流 原子化器高度 载气流量、屏蔽气流量 读数时间、延迟时间 * * 光电倍增管负高压(PMT)  指加于光电倍增管两端的电压。 光电倍增管的作用是把光信号转换成电信号，并通过放大电路将信号放大。放大倍数与加在光电倍增管两端的电压（负高压）有关，在一定范围内负高压与荧光信号（荧光强度If）成正比，见图1。 * * 负高压越大,放大倍数越大。增加光电倍增管负高压有利于提高灵敏度，降低检出限，但工作曲线的线性范围降低，同时暗电流等噪声也相应增大。 图1 荧光强度与负高压的关系 * * 据文献介绍,当光电倍增管负高压在200V～500V之间时，光电倍增管的信号（S）/噪声（N）比是恒定的，见下图。因此，在满足分析要求的前提下，尽量不要将光电倍增管的负高压设置太高。 光电倍增管的信噪比（S/ N）与负高压的关系 日盲光电倍增管对320nm以上的可见光无反应，尽管如此，仍不应把仪器安装在日光直射或光亮处，当采用较高的负高压时更应注意室内光线对基线的影响。 * *  灯电流 灯电流的大小决定激发光源发射强度的大小，在一定范围内随灯电流增加荧光强度增大。但灯电流过大，会发生自吸现象，而且噪声也会增大，同时灯的寿命缩短。 双阴极灯的主、辅阴极电流配比影响其激发强度，使用时应引起注意。通常情况下辅阴极电流略小于主阴极电流时灯的激发强度较佳。 汞灯实际上是阳极汞灯，汞灯灯电流不宜过高，适宜范围为15~50mA。 * * 不同元素灯的灯电流与荧光强度的关系不尽相同，见下图。 不同元素灯的灯电流与荧光强度的关系 * * 原子化器高度 原子荧光光度计的原子化器高度是指原子化器顶端到透镜中心水平线的垂直距离。其指示的高度数值越大，原子化器高度越低，氩氢火焰的位置越低 氩氢火焰的高度示意图 * * 载气流量、屏蔽气流量 载气的作用：将生成的氢化物带入原子化器，一般均为氩气 载气流量小，氩氢火焰不稳定，测量的重现性差，载气流量极小时，氩氢火焰很小，同时载气难以迅速把氢化物带到原子化器，有可能测量不到信号； 载气流量大，原子蒸气被稀释，测量的荧光信号降低，过大的载气流量还可能导致氩氢火焰被冲灭，无法形成氩氢火焰，使测量没有信号。一般载气选用300-700mL/min 屏蔽气的作用是防止周围的空气进入火焰引起荧光淬灭，以保持较高的、稳定的荧光效率 屏蔽气流量小时，氩氢火焰肥大，信号不稳定； 屏蔽气流量大时，氩氢火焰细长，信号不稳定且灵敏度降低。 流量一般在1000-1200ml/min * * 读数时间、延迟时间 读数时间[t(r)]是指进行测量采样的时间，即元素灯以事先设定的灯电流发光照射原子蒸气使之产生荧光的整个过程。可根据If-T关系曲线形状来确定读数时间，以峰面积积分计算时以将整个峰形全部采入为最佳。 延迟时间[t(d)]是指当样品与还原剂开始反应后，产生的氢化物进入原子化器需要一个过程，其所用时间即为延迟时间。延迟时间设置准确，可以有效地延长灯的使用寿命，并减少空白噪声。 信号的测量方式有峰面积法和峰高法，因为积分的时间较短（10s左右），故采用峰面积法测量精密度更好 * * 读数时间、延迟时间与荧光强度的关系图 * * 提高精密度和准确度的方法 （1）测定前需用标准溶液调整仪器的灵敏度，待读数稳定后再测定。一般使标准系列第一点的荧光强度在100左右。 （2）大批样品测定时，每测定10个样品作一次标准校准或用一个标准校对漂移情况，以保证测定结果的准确性。 （3）在温度较低时，应注意延长Sb(Ⅴ)和As(Ⅴ)的预还原时间，因此时还原速度较慢，以免还原反应不完全造成测定误差。 （4）冬季室温较低时，应将室温控制在15℃以上，增加仪器预热时间到30min以上，样品溶液、硼氢化钾、载流等也应在空调下升温到15℃以上在进行反应，否则荧光强度会很低，检测灵敏度下降，即使加大灯电流、负高压往往也无济于事。 * * 扩大测量范围的方法 氢化物发生原子荧光化的特点之一，