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Ｘ射线：波长很短的电磁波。波长较长的称软X射线（晶体微观结构分析），较短的称硬X射线（探伤） X射线谱 ：X射线的强度与波长的关系曲线。 X射线强度：单位时间内通过单位面积的X光的能量总和。与能量与数量有关。 特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。 连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。 荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线 二次特征辐射：利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线 Ka辐射：电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线 相干辐射：X射线通过物质时在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，称为相干散射 非相干辐射：散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的 俄歇电子：原子中一个K层电子被激发出以后，L层的一个电子跃迁入K层填补空白，剩下的能量不是以辐射 原子散射因子：为评价原子散射本领引入系数f (f≤E)，称系数f为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果 结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响 多重性因素：同一晶面族{ hkl}中的等同晶面数 系统消光：原子在晶体中位置不同或种类不同引起某些方向上衍射线消失的现象 非晶体与晶体的 区别主要是在与质点的长程是否有序。 表征非晶体结构的常数：配位数n、最近邻电子的平均距离r、短程有序畴rs、原子的平均位移。 织构是指多晶体中众多已经处于“择优取向----多晶体部分晶粒取向规则分布的现象”位置的晶粒协调一致的排列状态。包括丝织构和板织构。 织构表征的方法：指数法、极图法、反极图法、三维取向分布函数法。 点阵消光与结构消光合称系统消光。 分辨率：是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离 明场像：用另外的装置来移动物镜光阑，使得只有未散射的透射电子束通过他，其他衍射的电子束被光阑挡掉，由此得到的图像 暗场像：或是只有衍射电子束通过物镜光阑，投射电子束被光阑挡掉，由此得到的图像 景深：是指当成像时，像平面不动，在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离 焦长：焦长是指物点固定不变（物距不变），在保持成像清晰的条件下，像平面沿透镜轴线可移动的距离。 像差：由于透镜几何形状和电磁波波长变化对电磁透镜聚焦能力不一样造成的图像差异 等厚干涉条纹：在电镜下我们会看到整个楔形晶体是亮暗相间的条纹，这些条纹很像地图上的等高线，每一条纹对应晶体的相等厚度区域所以叫等厚干涉条纹 弯曲消光条纹：当样品厚度一定时，衍射束强度随样品内反射面相对布拉格位置偏移矢量S变化而呈周期摆动，相应的投射束强度按相反周期摆动，摆动周期为1／T，因而在电镜内显示出相应的条纹。 衬度：像平面上各像点强度的差别，衬度越高，越清晰。 质厚衬度：试样中各处原子种类不同或厚度、密度差异所造成的衬度。 相位衬度：有相位差所引起的强度差异。 衍射衬度：由满足布拉格衍射条件的程度不同造成的。 双束近似：假定电子束透过晶体试样成像时，除投射束外只存在一束较强的衍射束，而其他衍射束则大大偏离布拉格条件，他们的强度都可以视为零 柱体近似：把薄晶体下表面上每点的衬度和晶柱结构对应起来的处理方法称柱体近似 消光距离：表示在精确符合布拉格条件时透射波与衍射波之间能量交换或强度振荡的深度周期。 标准电子衍射花样：是指零层倒异面上的阵点在底片上的成像。 晶带指数是指晶带轴的晶向指数。 5与X射线相比（尤其透射电镜中的）电子衍射的特点 X射线衍射 相同点:满足衍射的必要和充分条件,可借助倒易点阵和厄瓦德图解 不同点:波长λ长,试样是大块粉末 1.要精确满足布拉格条件 2.衍射角可以很大 3.衍射强度弱,暴光时间长 电子衍射 相同点:满足衍射的必要和充分条件,可借助倒易点阵和厄瓦德图解 不同点:波长λ短,试样是薄片 1.倒易点变成倒易杆 2.不要精确满足布拉格条件 3.衍射角很小 4.衍射强度强,暴光时间短 8说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因数是啥 如何提高电磁透镜的分辨率 衍射效应是影响两者分辨率的共同因素，而后者还受到像差的影响。 提高方法:1.提高加速电压，使电子波长减小，达到使艾利斑减小的目的，从而提高分辨率。2.适当提高孔径半角，而提高分辨率：3.运用适当的矫正器来减小像差对分辨率的影响。 11 说明透射电镜的工作原理及在材料科学研究中的应用 工作原理: 电子枪发射的电子束在阳极加速电