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统计过程控制(SPC)第二版 工序处于稳定状态下，其分布通常符合正态分布。由正态分布的性质可知：产品质量特性数据出现在平均值的正负三个标准偏差(μ?3?)之外的概率仅为0.27%。这是一个很小的概率，根据概率论 “视小概率事件为实际上不可能事件”的原理，可以判定：出现在μ?3?区间外的事件是异常波动，它的发生是由于特殊原因使总体的分布偏离了正常位置。 根据这一原理，将控制限的宽度设定为?3?。 均值的计算： 超出控制界限的点： 出现一个或更多点超出任何一个控制界限是那一点的特殊原因导致变差的主要证据。在那一点之前可能已经发生了特殊原因。 “三立即”原则： 操作者或现场管理者根据规定的取样频率和样本容量抽取样本组、立即计算Xbar和R并将其画在控制图中并与前点用短直线连接； 立即应用特殊原因识别准则判定制造过程是否存在特殊原因； 如制造过程存在特殊的原因，操作着或现场管理者应立即分析不受控特殊原因并采取措施确保制造过程恢复到受控状态。 请依照上个课堂练习的数据，计算下列指数： Cp 、Cpk、K。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的过程的极差 （存在高于和低于极差均值的两种链） 不受控制的过程的极差（存在长的上升链） 不受控制的过程的均值（长的上升链） 不受控制的过程的均值 （出现两条高于和低于均值的长链） UCL X LCL UCL X LCL 典型特殊原因识别准则 连续6点上升或下降 3 连续8个点距中心线的距离大于1个标准差（任一侧） 8 连续15个点排列在中心线1个标准差范围内（任一侧） 7 4/5的点距中心线的距离超过1个标准差（同一侧） 6 2/3的点距中心线的距离超过2个标准差（同一侧） 5 连续14点交替上下变化 4 连续7点位于中心线一侧 2 一个点远离中心线超过3个标准差 1 典型特殊原因识别准则的汇总 使用Xbar-R控制图的步骤 D 有关“控制”的最终概念 在生产过程中，控制的完美状态是从来达不到的，过程 控制的目标不是完美状态，而是使控制达到合理和经济的 状态，因此为了使用的目的，受控的过程并不是在图上 永远不失控。 如果一个控制图从来没有显示失控，那么我们应该认真 的思考一下这个过程是否应该使用控制图。 在车间里，一个受控的过程应该是只有小比例的点失控， 并针对失控的点采取适当的措施。 本章的小结 统计过程控制(SPC) 四、过程能力和性能 双边公差的指数（Cp和Cpk、 Pp和Ppk、CR和PR） 单边公差的指数 （Cpk、 Ppk） 过程能力和过程性能概念 过程能力和过程性能的概念 过程能力： 仅适用于统计稳定的过程，是过程固有变差的6 范围。 过程性能： 过程总变差的6 范围。 如果过程处于统计受控状态，过程能力将非常接近过程性能，当过程的能力和性能6 之间存在较大差别时表示有特殊原因存在。 过程能力和过程性能的概念 过程能力的计算： 过程性能的计算： 或 2 6 d R LSL USL C p = - = 双边公差的过程测量指数 Cp:能力指数。过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数反映了过程是否能够很好地满足变化要求。计算公式如下： Cp不受过程位置的影响，这个指数只是针对双边公差而计算的。 USL USL LSL LSL 双边公差的过程测量指数 6sigma 6sigma X X M 双边公差的过程测量指数 Cpk：能力指数。它考虑了过程的位置和能力。对于双边公差， Cpk 将总是小于或者等于Cp。 Cpk 和Cp应该总是一起进行评价和分析。 如果Cp 值远大于对应的Cpk 值，表明有机会改进。 Cpk是CPU或者CPL的最小值，公式如下： 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU = - = - = Cp和Cpk 仅仅当过程处于 稳定状态时 才有效。 10 14 18 12 16 1.5 2.5 1.5 2 13 CPK CPU CPL Cp μ 10 14 18 12 16 10 14 18 12 16 2.0 2.0 2.0 2 14 CPK CPU CPL Cp μ 1.5 1.5 2.5 2 15 CPK CPU CPL Cp μ 指数差异说明 案例练习 * * 汽车行业质量管理 核心工具培训教材 制造过程 原辅料 人 机 法 环 测量 测量 结果 合格 不合格 测量 不要等产品制造出来后再去检验合格与否，而是在制造的時候就要制造出合格产品。 针对产品结果的控制是SQC。 SPC的目的 一个单个的单位产品或一个特性的一次测量，通常用符号 X 表示。 单值（Individual） 将一组测量值从小到大排列后，中间