射频可测试性设计规范讲义.docVIP

Q/SY 深圳市远望谷信息技术股份有限公司企业标准 Q/SY XXXX–2009 射频可测试性设计规范 2010-XX-X发布 2010-XX-XX实施 深圳市远望谷信息技术股份有限公司 发 布目录 前 言 本标准的其它系列标准： 与对应的国际标准或其它文件的一致性程度： 本标准参考内容，结合我司实际制定/修订。 本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司中试部提出。 本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司技术部归口。 本标准起草部门：中试部。 本标准主要起草人：彭辉、王文财。 本标准于2010年8月首次发布。 射频可测试性设计规范 范围和简介 范围 本规范主要规范RF单板ICT DFT 设计和FT DFT 设计，适用于产品设计中的所有成员，特别包括硬件方案设计人员，原理图项目人，RF硬件设计人员，RF 互连设计工程师、ICT 装备工程师。 本规范适用于RF单板ICT 和FT DFT 的设计。 简介 本规范规定了RF单板ICT DFT 设计方法和FT DFT 设计方法，适用在RF单板方案设计阶段、PCB 布局阶段和ICT 软件编程阶段。要求开发工程师和RF CAD 设计工程师在单板方案设计、PCB 布局时遵守此规范进行ICT 测试点和FT可测试性设计，ICT 装备工程师遵守此规范进行ICT 软件编程。 制定本规范的目的之一是收集整理产品设计过程中好的射频FT DFT 设计方法并加以总结、推广，旨在从设计源头加强射频FT DFT 设计的有效性和规范性，帮助DFT 设计人员和产品开发人员更好的实现产品的射频FT DFT 特性。 关键词 RF，DFT，ICT，FT，ICT 测试点。 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 序号 编号 名称 1 术语和定义 RF：Radio Frequency ，无线电频率。ICT：In-Circuit Test，在线测试BUT：Board Under Test，被测单板DFT：Design-for-Test ，可测试性设计FT：Function Test，功能测试MMIC：Microwave Monolithic Integrated Circuit，微波单片集成电路 缩略语Abbreviations 英文全名Full spelling 中文解释Chinese explanation RF Radio Frequency 无线电频率 ICT In-Circuit Test 在线测试 DFT Design-for-Test 可测试性设计 FT Function Test 功能测试 MMIC Microwave Monolithic Integrated Circuit 微波单片集成电路 射频单板ICT,DFT设计 射频单板ICT 测试点设计规则 规则1.1.1 ：射频微带线上的ICT 测试点的直径设置为40mil，特殊情况下最小可允许为 32mil（需要与ICT 工程师确认）。所以PCB 设计时，微带线线宽最好设置在30mil 以上，尽量减小测试点阻抗的不连续性。 说明1：如果射频微带线上有过孔，过孔直径设置为40mil，特殊情况下最小可允许为32mil （需要与ICT 工程师确认），仿真通过后，将该过孔属性设置成ICT 测试点属性，则该过孔可以直接作为ICT 测试点。 说明2：如果射频微带线上没有过孔，则微带线上ICT 测试点类型选用表贴式，直径设置 为40mil，特殊情况下最小可允许为32mil（需要与ICT 工程师确认），仿真通过后，将表贴式测试点属性设置成ICT 测试点属性。 规则1.1.2 ：射频微带线上的ICT 测试点尽量放在微带线上，见图1。对于1GHz 以下的信号，如果布局紧密，微带线上的ICT 测试点也可以适当设置在分支线上，见图2；对于1GHz 以上的信号，微带线上的测试点要求放在微带线上，如果空间局限必须设置在分支线上，可以最后进行防真，将ICT 测试点的影响降低到最小。 图1 某公司功放模块单板微带线上ICT 测试点设置方法 图2 某公司频率综合源RF通路微带线分支ICT 测试点设置方法 规则1.1.3 ：其它非微带线上的ICT 测试点设计规则见《可测试性设计DFT》中第6节课测试性总体设计要求。说明：非微带线上的ICT 测试点可以是过孔型式，也可以是表贴式。见图3，某公司单板AT-210 数字衰减器控制端I