SECM基本原理及其在金属腐蚀中的应用.pdfVIP

第 19卷 第5期 电化学 Vol.19 No.5 2013年 10月 JOURNALOFELECTROCHEMISTRY Oct. 2013 文章编号:1006-3471(2013)05-0393-09 SECM基本原理及其在金属腐蚀中的应用 1* 1 1 1 1,2 曹发和 袁夏 妍袁刘文娟袁常林荣袁张鉴清 渊1. 浙江大学化学系袁浙江 杭州 310027曰2. 中国科学院金属研究所金属腐蚀与防护国家重点实验室袁 辽宁 沈阳 110016冤 摘要院扫描电化学显微镜渊SECM冤是一种具有较高空间分辨率的化学显微镜袁在成像和动力学研究已经广泛应 用.本文简要介绍SECM基本原理袁综述2009年以来SECM在腐蚀方面的应用袁包括扫描成像和异相电子转移化 学活性的研究袁并简要介绍了作者课题组在SECM方面的研究工作袁展望SECM在腐蚀研究的应用. 关键词院扫描电化学显微镜曰金属曰腐蚀 中图分类号院O646.6 文献标识码院A 自20 世纪80年代末AllenBard 教授提出扫 茂铁甲醇等.采用双恒电位仪连接探针尧基底样品尧 描电化学显微镜渊ScanningElectrochemistryMicro- 参比电极和辅助电极.超微电极渊一般是Pt袁Au袁直 [1-2] scope袁SECM冤并进行了系列深入研究 后袁20 几 径 1~25滋m冤置于毛细玻璃管中袁端面密封后袁抽 年的发展使SECM在电化学的多个领域有着广泛 真空袁加热玻璃管袁固定Pt 或者Au 于玻璃管中袁 的应用. 因SECM较扫描参比电极技术渊Scanning 通过银树脂渊SilverEpoxy冤引出导线袁最后打磨抛 ReferenceElectrodeTechnique袁SRET冤等电化学方 光端面和侧面至玻璃半径与Pt 或Au 半径一定比 [3] 法具有较高的空间分辨率和多种应用模式 袁而腐 值渊该比值记为RG袁一般 1.5~10袁最小可以达到 蚀作为固液界面电荷转移袁并具有高度局部化特征 1.1冤. 当双恒电位仪施加在探针的电位足够负或足 的一种典型电化学现象袁SECM能有效提供局域化 够正时渊取决于溶液中的电活性物质性质袁Ox氧化 微区图像和电荷转移特征袁因此在腐蚀领域也备受 性电活性物质尧Re 还原性电活性物质冤袁Ox在超微 [4] [5] [6-7] 关注. 自1999年袁国内林昌健 尧陈慎豪 和李晓刚 电极表面被还原为Re袁 并产生探针电流i 渊如图 T 等就扫描探针显微镜渊ScanningProbeMicroscope袁 1A冤稳态的探针电流i 院 T,肄 SPM冤技术在腐蚀袁尤其在局部腐蚀的应用均有详 i =4nFCDa (1) T,肄