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- 2016-05-10 发布于山西
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vlsi-03
集成电路工艺原理 仇志军 zjqiu@fudan.edu.cn 邯郸校区物理楼435室 对硅造成表面腐蚀 较难干燥 价格 化学废物的处理 和先进集成工艺的不相容 湿法清洗的问题 湿法清洗造成硅片表面粗糙度增加 表面粗糙度:清洗剂、金属污染对硅表面造成腐蚀,从而造成表面微粗糙化。SC-1中,NH4OH含量高,会对硅造成表面腐蚀和损伤。 降低沟道内载流子的迁移率,对热氧化生长的栅氧化物的质量、击穿电压都有破坏性的影响。 Ra(nm) Mixing ratio of NH4OH(A) in NH4OH+H2O2+H2O solution (A:1:5, A1) 降低微粗糙度的方法: 减少NH4OH的份额 降低清洗温度 减少清洗时间 Surface roughness (nm) Surface roughness (nm) 不同清洗(腐蚀)方法与表面粗糙度 Surface roughness (nm) Surface roughness (nm) Ebd (MV/cm) Ebd (MV/cm) 表面粗糙度降低了击穿场强 干法清洗工艺 气相化学,通常需激活能在低温下加强化学反应。 所需加入的能量,可以来自于等离子体,离子束,短波长辐射和加热,这些能量用以清洁表面,但必须避免对硅片的损伤 HF/H2O气相清洗 紫外一臭氧清洗法(UVOC) H2/Ar等离子清洗 热清洗
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