光检测与光接收机摘要.ppt

SAM-APD管的结构 当入射功率中含有大量光子时、量子效率可用转换成光电流的光子数与入射的总光子数的比来表示： 要得到高量子效率，必须采取如下措施 1 减小入射表面的反射率： 2 尽量减小光子在表面层被吸收的可能性，增加耗尽区的宽度，使光子在耗尽区被充分地吸收。 响应度 例题 用带隙能量为0.75eV的材料制造的雪崩光电二极管，量子效率为70%，增益为20，计算其响应度。 响应速度 渡越时间 电路时间常数的影响 暗电流 暗电流是指无光照时光电二被管的反向电流 。 光接收机的噪声 影响光接收机性能的主要因素是接收机内的各种噪声源。 什么是噪声 1)噪声的数学表示 噪声是一种随机性的起伏量，它表现为无规则的电磁场形式，其瞬时电压Vn(t)的变化形式如图下所示。噪声是电信号中一种不需要的成分，它干扰实际系统中信号的传输和处理，影响和限制了系统的性能。 特点： 噪声电压Vn(t)的振幅、相位等均随时可作无规则的变化，其瞬时值的平均为零，即 E（Vn(t)）＝0，因而无法用平均值来评价噪声的大小。 表示： 从统计理论上讲，其均方差Vn2(t)则是完全确定的，这表示单位电阻(1欧)上所耗损的平均功率，并可用功率电表测量。因此，噪声的大小可用Vn2(t)来判定，而Vn(t)的均方根值( )为噪声电压的有效值。 举例 噪声谱密度 在正频域内，电阻R的热噪声电压和电流的谱密度： 光接收机中的噪声源 在光接收机中，可能存在多种噪声源，具体见下图： 量子噪声(或散弹噪声)来自单位时间内到达光检测器上信号光子数的随机性，因此它与信号电平有关。 在采用APD作光检测器时，倍增过程的统计特征产生附加的散弹噪声，它随倍增增益而增加。 光检测器中的其他噪声源来自暗电流及漏电流，它们均与光照无关，在小信号时光检测器的偏置电阻及放大器电路的热噪声往往起重要作用。 量子噪声(或散弹噪声)来自单位时间内到达光检测器上信号光子数的随机性，它与信号电平有关。 在采用APD作光检测器时，倍增过程的统计特征产生附加的散弹噪声，它随倍增增益而增加。 光检测器中的其他噪声源来自暗电流及漏电流，它们均与光照无关，在小信号时光检测器的偏置电阻及放大器电路的热噪声往往起重要作用。 噪声计算 接收机等效电路及放大器电路噪声 光检测器被认为是一个理想的容性电流源； 接收机的唯一噪声源将是前置放大器的噪声。假定这些噪声具有高斯统计特征，其频谱是平坦的(即为白噪声)，且互不相关[统计独立的]，则它们可用两个噪声谱密度来表示： SI—并联噪声电流源谱密度(A2／Hz)，它包括前置放大器第一级的噪声电流(主要是Ra的热噪声)及光检测器负载电阻Rb的热噪声； SE——串联噪声电压源谱密度(v2／Hz)，代表放大器通道的串联噪声源。这时，前置放大器被看做为无噪声的理想放大器。前置放大器和主放大器一起构成电压放大器，其频响函数为A(ω)。放大到足够大的信号送到均衡滤波器，其频响函数为H(ω)，输出信号的电压为Vs(ω)。包括滤波器在内的放大器链称为接收机的线性通道。 系统传递函数： 光检测器的噪声 (1)光信号入射到光检测器上时的随机起伏及光电子产生和收集过程的统计特征。信号光电流中不但有信号成分，还有噪声成分，这种噪声称为量子噪声(或散弹噪声)，它与信号电平成正比。 (2) 对于APD，由于倍增过程的统计特征而产生附加的散弹噪声，它随倍增增益的增加而增加。 (3)无光照时光检测器中流通的暗电流，这也是一种散弹噪声，且受倍增的影响。 (4)表面漏电流产生的散弹噪声，与倍增过程无关。 (5)背景噪声。 量子噪声 源自光的波粒二重性。对于频率为f的光场，每个光子的能量为hf。设光束功率为P，则单位时间内的光子数为P／hf。理论和实验都证明，光束中的这些光子是以其统计平均值为中心作随机波动的。这种随机起伏的光子入射到光检测器上时，产生的电子空穴对也具有随机起伏，导致所谓量子噪声。显然，量子噪声是由光的本质决定的，必然附着在信号上，成为接收机灵敏度的最终限制。 APD倍增噪声 实际APD中，每个光生载流子具有不同的倍增增益，倍增后的光电流比倍增前有更大的随机起伏，因而引入了附加噪声。 过剩噪声因子 暗电流噪声和漏电流噪声 暗电流是没有光入射时流过光检测器的电流，它由pn结内热效应产生的电子空穴对形成。在APD检测器中，暗电流能被倍增，因此影响更大。 影响暗电流大小的因素有： 器件材料 偏置电压高低 工作温度。 表面漏电流是由于器件