放大电路幅频特性测试系统设计.pdfVIP

二 ! 实 验 技 术 与 管 理 第32卷 第 9期 2015年 9月 CN11 2O34／T ExperimentalTechnologyandM anagement Vo1．32 No．9 Sep．2015 放大 电路幅频特性测试系统设计 赵 博 ，黄 飞，刘宏银 ，刘士兴 (合肥工业大学 电子科学与应用物理学院，安徽 合肥 230009) 摘 要：设计了一种基于嵌入式处理器控制的放大电路幅频特性测试系统。采用 DDS技术搭配一款模拟乘法 器为待测放大电路提供频率、幅值、波形可调的输入信号。信号频率步长为 0．04Hz，输出范围为 0．04Hz一12．5 MHz。待测放大电路输 出信号首先通过精密全波整流滤波电路进行处理，然后经嵌入式处理器 内置 ADC采样 处理，采样精度最高可达 0．8mV，以实现交流信号幅值测量和幅频特性曲线的LCD显示。本系统数字集成高， 成本低，且操作简单