数字电路实验讲义(实验+选做实验).docVIP

《数字电子技术基础》实验指导手册 首都师范大学信息工程学院 2015年8月 目录 数字电路实验基本知识 第二章 基本实验 实验一 基本逻辑门特性 实验二 逻辑门电路的功能 实验三　基本触发器 实验四　译码器和多路数据选择器 实验五 全加器设计与实现 实验六　简单时序电路 实验七 减法计数器的设计与实现 实验八　集成计数器 第三章 选作实验 选做实验一　组合逻辑中的竞争冒险 选做实验二 秒计时显示器的制作 第一章 数字电路实验基本知识 一、数字集成电路芯片： 中，小规模数字IC中最常用的是TTL（晶体三极管逻辑）电路和CMOS（互补场效应管逻辑）电路，TTL器件型号以74（或54）作为前缀，称为74/54系列，如74LS10，74F181，54S86等。中，小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX（X代表0—9的数字）系列；高速CMOS电路为74HC/HCT系列。TTL电路与CMOS电路各有优缺点，一般来说TTL电路速度快，驱动能力强；CMOS电路功耗小，电源范围大，输入阻抗高。由于TTL在世界范围内应用极广，在数字电路教学实验中主要使用TTL电路的74系列作为实验用器件，采用单一的+5V作为供电电源。 数字IC器件有多种封装形式。在实验教学中主要采用74系列的双列直插封装形式的IC芯片。双列直插封装芯片的正面示意图如右图所示,它有以下特点： 双列直插封装器件的引脚从正面看，器件的一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1，引脚号按逆时针方向增加。图中的数字表示引脚号。双列直插封装的IC引脚有8、14、16、20、24、28等若干种。 双列直插封装器件有两种引脚。引脚之间的间距是2.54毫米。两列引脚之间的距离有宽（15.24毫米）有窄（7.62毫米）两种。将器件插入实验台相应的插座中去或从插座中拔出时要小心，不要将器件的引脚搞弯或折断。通常要借助小起子进行操作。 特别注意：不要带电插拔器件！插拔器件只能在关断+5V电源的情况下进行。 二、数字电路测试及故障查找、排除： 数字电路测试 数字电路测试大体分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是：给定数字电路若干组静态输入值，测试其输出值是否正确。在静态测试的基础上按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字电路则必须进行动态测试。一般来说，时序电路应进行动态测试。 数字电路故障查找和排除 在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。一般来说，有四方面的原因产生问题：器件故障；接线错误；设计错误；测试方法不正确。 当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱，应仔细观测现象，冷静思考问题所在。首先仪器仪表的使用是否正确。在正确使用仪器仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。实验故障大部分是由于接线错误引起的，因此一定要认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚折断、弯曲、错插问题。确认若无上述问题，可取下器件测试，以检查器件好坏，或直接更换一个新的器件。如果器件和接线都正确，则需考虑电路的设计是否有问题。 TDS数字电路实验台简介： TDS-1数字电路实验系统是一种通用的实验设备。在这个设备上既能够使用中小规模器件做简单数字电路实验，又可以用PLD、CPLD或ISPLD器件做较为复杂的数字系统实验。图1－1是TDS-2数字电路实验系统布局图。下面介绍它的基本组成部分。 电源 TDS数字电路实验系统自备一路+5V、1A电源。 双列直插芯片插座 为了适应数字电路实验不同阶段的要求，实验台上安排了11个双列直插芯片插座（14芯4个、16芯2个、20芯2个、24芯2个、28芯1个） 时钟源 TDS-2数字电路实验系统提供5路时钟（10MHz、5MHz、1MHz、500KHz、100KHz）和1路可调频率的时钟（从1KHz～100KHz的可调方波信号）。 单脉冲及相位滞后脉冲 TDS-2数字电路实验系统安排了4个单脉冲按钮（AK1、AK2、AK3、AK4）， 可分别可产生4路脉冲信号，按键上方的上排插孔连续输出1～4个窄脉冲，下排插孔输出一个宽脉冲。按AK1产生4个窄脉冲和一个宽脉冲，AK2产生3个和一个宽脉冲，……，按AK4产生1个窄脉冲和一个宽脉冲，见图1－2所示。 逻辑电平开关及发光二极管LED 逻辑电平开关由12个拨动开关组成，（向上为1，向下为0）。12只发光二极管LED用来指示信号电平的高低（接高电平时亮，接低电平时灭）。 数码管及驱动电路 实验系统上安装了6个共