第一X射线衍射分析测定方法.ppt

第四节 X射线衍射分析 最基本的衍射实验方法有：粉末法、劳厄法、转晶法三种 X射线衍射仪 2. X射线衍射的主要部件及作用： 1） X 射线发生器 用于产生X射线。它由X射线管和高压发生器两部分组成。X射线管包括灯丝和靶（又分封闭靶和转靶），灯丝产生电子；高压发生器产生高达几万伏的电压以加速电子撞击靶。封闭靶是把灯丝和靶封闭在真空玻璃管球内；对于转靶还要附加高真空系统（由机械泵和分子泵两级抽空）以保证灯丝和靶面在高温下不被氧化。一般地，封闭靶功率比较低，最高为3 kW；转靶的功率较高，通常高于12kW, 其优点是可提高对含量少，灵敏度低的样品的检出限。 2） 测角仪 用于测定样品产生衍射的布拉格角。测角仪包括样品台（固定样品板），狭缝系统（防止垂直发散的两个索拉狭缝S1，S2，防止水平发散的发射狭缝DS，接收狭缝RS和防散射狭缝SS），单色化装置（石墨弯晶单色器或采用滤波片），探测器又叫光电倍增管（通常有正比计数器PC，闪烁计数器SC)。 测角仪的轴动比即样品轴?和测角计轴2?的同轴转动比为1：2（见图）。 3） 控制/处理系统 主要硬件有: 1.电子计算机（或工作站） （带系统软件和应用软件） 2. 输出系统 （X-Y记录仪，打印机，绘图仪） 主要作用是： 1.用于仪器调整 2.数据采集与处理 3.结果分析与输出? 3、试样的测定 图5 试 样 测 定 的 流 程 测角仪 粉末衍射仪常见相分析测试图谱（SiO2） 衍射仪所能进行的工作 4. 试样的制备过程 （1）试样的预处理 X射线衍射分析试样必须满足两个条件： 1.晶粒要细小 2.试样无择优取向（取向排列混乱）。 通常将试样研细后使用。 可用玛瑙研钵研细。 定性分析时粒度应小于44μm（350目） 定量分析时应将试样研细至10 μm左右。 较方便地确定10 μm粒度的方法是: 用拇指和中指捏住少量粉末并碾动，两手 指间没有颗粒感觉的粒度大致为10 μm 。 样品制备 （2）试样的填充 必须保证接收X射线入射的试样面是一平面，且使这个试样面与测角仪轴一致； 试样架的正面与背面是有区别的，正面的加工精度高(注意不要弯曲试样架)； 试样面应是试样架的正面，在进行点阵参数的精确测定时尤其要注意。 现有的试样架主要有两种： 一种是穿孔（20 ? 18 mm2）的铝样品架 （35 ? 50 mm2，t ? 1.5mm，）。 装填粉末时，将样品架的正面紧贴在玻璃平板上，粉末从背面填充至孔中，用小玻璃板均匀装入，上面再铺上薄纸用姆指压紧，然后轻轻拿起试样待测。 另一种是玻璃样品架。 它与铝样品架尺寸相同（不通孔），在玻璃板上蚀刻出试样填充区 （20 ? 18 mm2）。 主要用于粉末试样较少时使用（约少于500mm3），用铝样品架难以充填的粉末试样可用此试样架。 装样时将粉末一点一点放进试样填充区，重复这种操作，使粉末试样在架里均匀分布并压实。要求试样面与玻璃表面齐平。 如果试样的量少到不能充填满试样充填区（大致小于70mm3、100～200mg以下）时，在玻璃样架凹槽里先滴一薄层用醋酸戊酯稀释的火棉胶溶液，然后将粉末试样撒在上面，待干燥后测试。为了避免2?在25?附近处出现玻璃的漫散射衍射峰，可将发散狭缝改细，使入射X射线不致过多地为玻璃所散射。 （3） 块状试样的分析 分析块状试样时，可将试样切割成20?18mm2大小，用橡皮泥固定在铝样架上或块状试样架上进行测定； 如果块状样品有一定大的平面20?40mm2，厚度小于5mm，也可将试样直接插入样品台上测量。注意必须使测定面与试样表面在同一平面上，试样表面的平整度要求达到0.02mm左右。 样品制备注意点： 1）样品颗粒的细度应该严格控制，过粗将导致样品颗粒中能够产生衍射的晶