数电实验要点分析.docVIP

实验2 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算） 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料 1.Dais或XK实验仪 一台 2.万用表 一台 3.器件： 74LS00 三输入端四与非门 3片 74LS86 三输入端四与或门 1片 74LS55 四输入端双与或门 1片 三、预习要求 1.预习组合逻辑电路的分析方法。 2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.学习二进制数的运算。 四、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试。 图2－1 ⑴用2片74LS00组成图2－1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 ⑵图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管显示。 ⑶按表2－1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。 ⑷将运算结果与实验比较。 表2－1 输 入 输 出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 实验过程及实验图： 1）连线图： 2）实验图： 实验总结： 用两片74ls00芯片可实现如图电路功能 2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2－2。 图2－2 ⑴ 在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。 ⑵ 按表2－2要求改变A、B状态，填表。 表2－2 输入端 A 0 1 0 1 B 0 0 1 1 输出端 Y 0 1 1 0 Z 0 0 0 1 实验过程及实验图： 管脚图： 实验图 （4）实验总结：用异或门（74LS86）和与非门可组成半加器 3.测试全加器的逻辑功能。 ⑴写出图2－3电路的逻辑表达式。 ⑵根据逻辑表达式列真值表。 ⑶根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。 Bi Bi,Ci-1 00 01 11 10 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 Ai Bi,Ci-1 00 01 11 10 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 Si= Ci= 图2－3 ⑷填写表2－3各点状态。 表2－3 Ai Bi Ci-1 Y Z X1 X2 X3 Si Ci 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 ⑸按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2－4，并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。 表2－4 Ai Bi Ci-1 Ci Si 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 实验过程及实验图： 1）引脚图： 2）实验图： 实验总结： ls00芯片可构成全加器4.测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。 全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或门和一个非门实现。 画出用异或门、与或非门和与门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。 ⑵找出异或门、与或非门和与门器件，按自己画出的图接线。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。 ⑶当输入端Ai、Bi、Ci－1为下列情况时，用万用表测量Si和Ci的电位并将其转为逻辑状态填入表2－5。 表2－5 输 入 端 Ai 0 0 0 0 1 1 1 1 Bi 0 0 1 1 0 0 1 1 Ci-1 0 1 0 1 0 1 0 1 输 出 Si 0 1 1 0 1 0 0 1 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1 实验过程及实验图： Si=A⊕B⊕C Ci=AB+BC+AC 引脚图：