计算机组成原理实验_new_new重点精要.docx

实验一：通用寄存器实验 一、实验目的 熟悉通用寄存器的数据通路。 掌握通用寄存器的构成和运用。 二、实验要求 在掌握了AX、BX运算寄存器的读写操作后，继续完成CX、DX通用寄存器的数据写入与读出。 三、实验原理 实验中所用的通用寄存器数据通路如下图所示。由四片8位字长的74LS574组成CX（R1 R0）、DX（R3 R2）通用寄存器组。图中X2 X1 X0定义输出选通使能，SI、XP控制位为源选通选择。RXW为寄存器数据写入使能，OP、DI为目的寄存器选择。DRCK信号为寄存器写脉冲，下降沿有效。准双向I/O输入输出端口用于置数操作，经2片74LS245三态门与数据总线相连。 图2-3-3通用寄存器数据通路 四、实验内容 实验连线 连线信号孔接入孔作用有效电平1DRCKCLOCK单元手动实验状态的时钟来源下降沿打入2WK6(M6)总线字长：1=16位字操作，0=8位字节操作3X2K10(M10)源部件定义译码端X2三八译码 八中选一4X1K9(M9)源部件定义译码端X15X0K8(M8)源部件定义译码端X06SIK19(M19)源寄存器编址：1=CX，0=DX，定义到M197XPK7(M7)源寄存器奇偶位：1=偶寻址，0=奇寻址8RXWK18(M18)寄存器写使能，本例定义到M18位高电平有效9DIK17(K17)目标寄存器编址：1=CX，0=DX，定义到M1710OPK16(M16)目标寄存器奇偶位：1=偶寻址，0=奇寻址 寄存器的读写操作 目的通路 当RXW=1时，由DI、OP编码产生目的寄存器地址，详见下表。 表2.3.5　通用寄存器“手动／搭接”目的编码目标使能通用寄存器目的编址功能说明RXWDIOPWDRCK1111↓CX字写1110↓CL(R0)偶字节写110X↓CH(R1)奇字节写1011↓DX字写1010↓DL(R2)偶字节写100X↓DH(R2)奇字节写 CX、DX寄存器的写入 通过“I/O输入输出单元”向CX、DX分别置数1122h、3344h，操作步骤如下： 源通路 当X2 X1 X0=1 1 0时，由SI、XP编码产生源寄存器，详见下表。 表2.3.6　通用寄存器“手动／搭接”源编码源使能通用寄存器源编址功能说明X2X1X0SIXPW110111CX字读110CL(R0)偶字节读10XCH(R1)奇字节读011DX字读010DL(R2)偶字节读00XDH(R2)奇字节读 CX、DX寄存器的读出 关闭CX、DX写使能，令RXW(K18)=0，按下流程分别读CX、DX。 实验二：准双向I/O口实验 一、实验目的 熟悉与了解准双向I/O口的构成原理。 二、实验要求 掌握准双向I/O口的输入／输出特性的运用。 三、实验原理 Dais-CMX16+向用户提供的是按准双向原理设计的十六位输入/输出I/O口，当该位为“1”时才能用作输入源，上电或复位（手动态按【返回】键），该十六位I/O口被置位（即为“FFFFh”）。通常情况下，在用作输入的时候就不能再有输出定义。电路结构如图2-3-4所示。该口外接十六位二进制数据开关，适用于外部数据的输入，该口跨接十六个发光二极管，经缓冲驱动四个七段显示，能以二进制和十六进制两种方式显示I/O口的输入输出状态。发光管在高电平“1”时发光点亮。 图2-3-4 准双向I/O电路 实验中所用的I/O口数据通路如图2-3-5所示。I/O的输入经2片74LS245缓冲与数据总线相连，I/O口的输出由2片74LS574锁存后输出，锁存器的输入端与数据总线相连。 图2-3-5 I/O口数据通路 四、实验内容 实验连线 连线信号孔接入孔作用有效电平1IOCKCLOCK单元手动实验状态的时钟来源下降沿打入2WK6(M6)总线字长：1=16位字操作，0=8位字节操作3X2K10(M10)源部件定义译码端X2三八译码 八中选一4X1K9(M9)源部件定义译码端X15X0K8(M8)源部件定义译码端X06XPK7(M7)源奇偶位：1=偶寻址，0=奇寻址7IOWK17(M17)I/O写使能，本例定义到M17位高电平有效8OPK16(M16)目的奇偶位：1=偶寻址，0=奇寻址9RXWK19(M19)寄存器写使能，本例定义到M19