STM32ADC电压测试实验报告.docx

STM32 ADC电压测试实验报告 一、实验目的 1.了解STM32的基本工作原理 2. 通过实践来加深对ARM芯片级程序开发的理解 3.利用STM32的ADC1通道0来采样外部电压值值，并在TFTLCD模块上显示出来 二、实验原理 STM32拥有1~3个ADC，这些ADC可以独立使用，也可以使用双重模式（提高采样率）。STM32的ADC是12位逐次逼近型的模拟数字转换器。它有18个通道，可测量16个外部和2个内部信号源。各通道的A/D转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行。ADC的结果可以左对齐或右对齐方式存储在16位数据寄存器中 接下来，我们介绍一下执行规则通道的单次转换，需要用到的ADC寄存器。第一个要介绍的是ADC控制寄存器（ADC_CR1和ADC_CR2）。ADC_CR1的各位描述如下： ADC_CR1的SCAN位，该位用于设置扫描模式，由软件设置和清除，如果设置为1，则使用扫描模式，如果为0，则关闭扫描模式，ADC_CR1[19:16]用于设置ADC的操作模式 我们要使用的是独立模式，所以设置这几位为0就可以了。 第二个寄存器ADC_CR2，该寄存器的各位描述如下： ADCON位用于开关AD转换器。而CONT位用于设置是否进行连续转换，我们使用单次转换，所以CONT位必须为0。CAL和RSTCAL用于AD校准。ALIGN用于设置数据对齐，我们使用右对齐，该位设置为0。EXTSEL[2:0]用于选择启动规则转换组转换的外部事件，我们这里使用的是软件触发（SWSTART），所以设置这3个位为111。 第三个要介绍的是ADC采样事件寄存器（ADC_SMPR1和ADC_SMPR2），这两个寄存器用于设置通道0~17的采样时间，每个通道占用3个位 对于每个要转换的通道，采样时间建议尽量长一点，以获得较高的准确度，但是这样会降低ADC的转换速率。ADC的转换时间可以由下式计算： Tcovn=采样时间+12.5个周期 第四个要介绍的是ADC规则序列寄存器（ADC_SQR1~3）, 第五个要介绍的是ADC规则数据寄存器(ADC_DR)。 最后一个要介绍的ADC寄存器为ADC状态寄存器（ADC_SR），该寄存器保存了ADC转换时的各种状态。 三．实验内容 一．实验步骤 1）开启PA口时钟，设置PA0为模拟输入。 STM32F103RBT6的ADC通道0在PA0上，所以，我们先要使能PORTA的时钟，然后设置PA0为模拟输入。 2）使能ADC1时钟，并设置分频因子。 要使用ADC1，第一步就是要使能ADC1的时钟，在使能完时钟之后，进行一次ADC1的复位。接着我们就可以通过RCC_CFGR设置ADC1的分频因子。分频因子要确保ADC1的时钟（ADCCLK）不要超过14Mhz。 3）设置ADC1的工作模式。 在设置完分频因子之后，我们就可以开始ADC1的模式配置了，设置单次转换模式、触发方式选择、数据对齐方式等都在这一步实现。 4）设置ADC1规则序列的相关信息。 接下来我们要设置规则序列的相关信息，我们这里只有一个通道，并且是单次转换的，所以设置规则序列中通道数为1，然后设置通道0的采样周期。 5）开启AD转换器，并校准。 在设置完了以上信息后，我们就开启AD转换器，执行复位校准和AD校准，注意这两步是必须的！不校准将导致结果很不准确。 6）读取ADC值。 在上面的校准完成之后，ADC就算准备好了。接下来我们要做的就是设置规则序列0里面的通道，然后启动ADC转换。在转换结束后，读取ADC1_DR里面的值就是了。 通过以上几个步骤的设置，我们就可以正常的使用STM32的ADC1来执行AD转换操作了。 二，程序代码 void Adc_Init(void) { //先初始化IO口 RCC-APB2ENR|=12; //使能PORTA口时钟 GPIOA-CRL=0XFFFF0000;//PA0 1 2 3 anolog输入 //通道10/11设置 RCC-APB2ENR|=19; //ADC1时钟使能 RCC-APB2RSTR|=19; //ADC1复位 RCC-APB2RSTR=~(19);//复位结束 RCC-CFGR=~(314); //分频因子清零 //SYSCLK/DIV2=12M ADC时钟设置为12M,ADC最大时钟不能超过14M! //否则将导致ADC准确度下降! RCC-CFGR|=214; ADC1-CR1=0XF0FFFF; //工作模式清零 ADC1-CR1|=016; //独立工作模式 ADC1-CR1=~(18); //非扫描模式 ADC1-CR2=~(11); //单次转换模式 ADC1-CR2=~(717); ADC1-CR2|=717; //软件控制转换 ADC1-C