普通元路件的失效规律.docVIP

5．1．3 元器件的失效规律及失效水平 了解元器件的失效规律和实际失效水平可以帮助我们采取措施，控制失效的发生，提 高元器件及产品的可靠性水平。电子元器件按失效规律可分为普通元器件和半导体器件 两类。 1．普通元路件的失效规律 普通元器件指电阻、电容、继电器等元器件。在大量使用后，发现它们的失效规律如 图5—5所示。该曲线形状像一条船或一个浴盆，所以也称为船形曲线或浴盆曲线。该曲 线可明显分为3个阶段。 (1)早期失效阶段。亿宾微电子该阶段失效特点是失效率高，但随着元器件工作时间的增加，失 效率迅速降低。主要是由于设计、制造工艺上的缺陷等因索而导致产品失效。尤其是材 料缺陷、工艺不良、操作粗心、检验不严等，员容易造成产品的早期失效。所以一旦使用． 问题马上表现出来，去掉这些元器件后，失效率马上降下来了*采取的措施主要是通过对 原材料和生产工艺加强检验和质量控制，可以大大减少早期失效率。在出厂前对元器件 进行筛选、老化工艺，挑选出失效元器件，使出厂的元器件保持在较低的失效率水平。 (2)偶然失效阶段。经过早期失效阶段厉，元器件的失效率迅速降低，并且基本稳定 下来，即此时的失效率为常数。质量不合格的元器件在第1阶段已剔出，元器件在这一阶 段发生失效的主要原因是一些意外的、偶然因素造成的，如受了机械撞击而造成的元器件 破损，电压突然升高造成的元器件烧毁。元器件都使用在这一阶段，所以该阶段也称为使 用寿命期。如何避免偶然因素的发生以减少失效．如何延长该阶段的时间以延长寿命，都 是这一阶段密要研究的问题。 (3)损耗失效阶段。这一阶段失效率的特点是元器件失效迅速上升。其原因是元器 件已超过其使用寿命，由于机械磨损，材料的老化、氧化等，故障随时可能发生，失效率迅 速上升。该阶段的产品应作报废处理，以免造成重大的人身、经济损失。 以上的3个阶段是电子产品的典型情况，也就是说，在一般情况下，电子产品的失效规 律符合图5—5所示的曲线形式。但是，并不是所有产品都有3个失效阶段，有的产品只有其 中一个或两个失效阶段。某些质量低劣的产品其偶然失效阶段很短，甚至在早期失效之后， 紧接着就进入了损耗失效阶段，对于这样的产品，进行任何可靠性筛选也是不行的。 2．半导体器件的失效规肄 如图5—6所示，它只有早期失效阶段和偶然失效阶段，没有损耗失效阶段。这是因为 半导体器件不存在材料的老化、氧化及应力破坏等因素。 3．元路件的失效水平 了解国内外元器件的失效率水平，对电子产品的可靠性设计是很重要的，它可以帮助 设计师选用合适的元器件。Atmel 表5—3为外国某半导体元器件的失效率水平*表5—4为国内某300路载波电缆通信 产品用的无人增音机中的元器件失效率水平，可供设计时参考。 从表5—4可以看出，薄膜电容器，纸质、瓷质电容器的失效率为2—5fit，即loo万个 元器件中工作1000 h后出现2—5个失效元器件。 1．4 串联和并联系统可靠性运用与计算 串联系统和并联系统是系统的两种常见的构成方式。 1．串联系统 构成方式如图5—7所示，其特点有； 门)A1，AB，…，An这n个子系统中，只要一个失效，则系统失效； (2)只有当A1，A2...，An全部正常工作，系统才能正常工作； (3)A1，A2，...An工作与否相互独立，即若A1失效不会传染给其他子系统。 wxq$#