015统计技术使用及管理指引.doc

1.目 的: 1.1适当使用统计技术，找出不良根源或预见潜在的不良，防止不合格的发生或重复发生，确保产品质量得到有效控制 1.2量化工作目标，为卓有成效的管理提供依据 2.范 围: 适合本公司所有过程中的统计 3.定义: 1SPC：统计制程控制 4.监察人: 品保部经理 5.内 容: 5.1常用统计技术简介 5.1.1层别法: 即按不同的层别列出所需登记的资料，有目的地进行分类，以方便分析。 应用：日报表及其它各类统计报表等。 5.1.2特性要因图 又称鱼骨图，是将不良分成人、机、物、法、环等造成原因的可能性作分析,并对存在的主要问题作专题分析，一般将问题分至第三层即可明确化。 2)应用：找出不合格的最大影响的因素（可与柏拉图合并使用， 5.1.3柏拉图法 目的：找出造成不良的主要因素（80%以上）有针对性地进行分析 步骤： 确定数据收集时间（最好为定期） 层别统计(依大小顺位自上向下排列) 在Excel中作两轴线-柱图（如下图） 序号 不良项目 不良数（件） 占不良总数的比率（%） 累计 比率（%） 1 破损 195 47% 47% 2 变形 90 22% 69% 3 刮痕 65 16% 85% 4 尺寸不良 45 11% 95% 5 其它 19 5% 100% 合计 　 414 100 　 5.1.4查核表法 目的：为维持管理及改善管理提供依据 应用：生产或测试设备点检表、5S检查表,记录表（用来收集计量或计数资料） 5.1.5管制图法 1) 管制图分类 计量管制：用于长度、重量、温度、时间等连续性可测量数值，应用最普遍的是Xˉ-R平均值与全距管制图； 计数管制：用于不良数、缺点数等间断性非量化数据，普遍应用的是不良率管制图（P-Chart）； 2) Xˉ-R管制图 Xˉ主要管制组间的平均值变化，管制界线：中心线CL=X=、上限UCL= X= +A2 Rˉ、下限LCL= X= -A2 Rˉ； R主要用于组内的范围变化，R1第一组内最大减最小，上限UCL= D4Rˉ、下限LCL= D3 Rˉ； Xˉ-R系数表 样本n A2 D3 D4 样本n A2 D3 D4 2 1.880 3.27 5 0.577 2.12 3 1.023 2.58 6 0.483 2.00 4 0.729 2.28 7 0.419 0.076 1.924 制作步骤 收集最近与今后制程相似的数据约100个并依测定时间或群体区分排列。 把2~6个数据分为一组，组内个别数据以n表示，个别组数以K表示，剔除异常数据。 填表并计算相关量及管制界限。 E. 绘图： 划管制界限：所定方格最好能在上下限间隔约20~30mm较为合适。 作记号：点与点（组与组）距离约2~5mm较合适，在管制界限内的点以●记，界限外的以 X 记。 F. 记入其它有关事项 G. 检查：制程是否在管制状态下或检讨制程能力 3) P管制图（不良率管制图）：可用在产品不良率、人员缺勤率难以直接工具测量的特性的管制 作法： 收集近期内的产品，分组并算出不良率，P=Pn/n（不良个数/总检查数） 计算平均不良率Pˉ/∑Pn-∑n（总不良数/总检查数） 计算管制线：中心线CL= Pˉ，上管制限UCL= Pˉ+3[Pˉ（1- Pˉ）/n]1/2 ， 下管制限LCL= Pˉ-3[Pˉ（1- Pˉ）/n]1/2 B．异常判读： a. 资料点超出管制限，必要时需作处理。 b.资料点连续偏离中心线7点时，表示有变化，需小心。 c.资料呈现规律性，原因易找出来。 5.1.6推移图法 对跟进的目标或计划值进行跟踪登记，以定期评估完成情况，及时制订纠正预防措施，确保目标或计划的顺利实施。 应用：年销售计划、产能,月生产计划等跟踪，在目标管理中应用广泛。 5.1.7 工序能力指数（CPK） 1) 由统计学原理，在正态分布时，质量特性值落在平均值的±3σ范围内的概率为99.7%，故可用±3σ范围的大小来表示工序能力的大小（加工精度） 2) 工序能力指数的计算 A．将测量出的结果，按以下公式进行计算： CPK1= 标准最大值-计算平均数 CPK2= 计算平均数-标准最小值 3倍的标准差 3倍的标准差 B．取上述结果的最小值作为CPK结果作品质保证能力的评估，当计算结果小于1.3则需对原因进行分析 3）工序能力指数对应的不合格品率表 CP 不合格品率 CP 不合格品率 CP 不合格品率 1.67 6/1000万 1.2 3/1万 0.67 4.55/100 1.5 7/100万 1.1 1/1000 0.33 31.75/100 1.33